光谱膜厚仪-一六仪器(在线咨询)-六安测厚仪

一六仪器 **测厚仪 多道脉冲分析采集，**EFP算法  X射线荧光镀层测厚仪

应用于电子元器件，LED和照明，家用电器，通讯，汽车电子领域.EFP算法结合精准**决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题

X荧光镀层测厚仪标准片选择与使用

1．一般要求

   使用可靠的参考标准块校准仪器。后的测量不确定度直接取决于校准标准块的测量不确定度和测量精度。

   参考标准块应具有的已知单位面积质量或厚度的均匀的覆盖层，如果是合金，则应知其组成。参考标准块的有效或限定表面的任何位置的覆盖层不能超过规定值的±5%.只要用于相同的组成和同样或已知密度的覆盖层，光谱膜厚仪，规定以厚度为单位（而不是单位面积质量）的标准块，将是可靠的。合金组成的测定，校准标准不需要相同，但应当已知。

金属箔标准片。如果使用金属箔贴在特殊基体表面作标准片，就必须注意确保接触清洁，无皱折纽结。任何密度差异，除非测量允许，否则必须进行补偿后再测。

2．标准块的选择

可用标准块的单位面积厚度单位校准仪器，厚度值必须伴随着覆盖层材料的密度来校正。标准片应与被测试样具有相同的覆盖层和基体材料，但对试样基材为合金成分的，有些仪器软件允许标样基材可与被测试样基材不同，但前提是标准块基体材料与试样基材中的主元素相同。

3．标准块的X射线发射（或吸收）特性及使用

   校正标准块的覆盖层应与被测覆盖层具有相同的X射线发射（或吸收）特性。

如果厚度由X射线吸收方法或比率方法确定，则厚度标准块的基体应与被测试样的基体具有相同的X射线发射特性，通过比较被测试样与校正参考标准块的未镀基体所选的特征辐射的强度，六安测厚仪，然后通过软件达到对仪器的校正。

江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。

X射线荧光光谱仪是基于X射线荧光光谱法而进行分析的一种常见分析仪器。通常认为X区域0.01-10nm之间的一段电磁波谱，短波边以伽马射线为界，长波边与真空紫外线区域的实际界线。

X射线荧光光谱仪特点

1、一种真正意义上 的无损分析，镀层膜厚仪，在分过程中不会改变样品的化学形态。具有不污染、节能低耗等优点。

2、分析速度快，无须进行样品预处理，升值无须样品的制备，X射线荧光光谱分析可以筛选大量的样品。一般情况下检测在3分钟以下。

3、自动化程度高。

4、可以同时测定样品中的多种元素。

5、随着分析技术的发展，仪器可以满足很多行业的需求。如：地质矿产，冶金、化工、材料、石油勘探、考古、合金、土壤、镀层等诸多行业。

6、样品的形态广。

7、X射线荧光光谱仪分为波长色散谱仪和能量色散谱仪可以满足各行个元素的需求。

8、X射线荧光光谱仪中的能量色散仪是低分辨率光谱仪已是在线分析的选择仪器之一。

江苏一六仪器  **涂镀层研发、生产、销售高新技术企业。其中稳定的多道脉冲分析采集系统、**的解谱方法和EFP算法结合精准**及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。

单镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。

双镀层：Au/Ni/Cu，测厚仪厂家，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。

三镀层：Au/Ni/Cu/ABS，Au/Ag/Ni/Cu， Au/Ni/Cu/Fe，等等

一、功能

1. 采用 X 射线荧光光谱法无损测量金属镀层、覆盖层厚度，测量方法满足

GB/T 16921-2005 标准（等同 ISO3497：2000、 ASTM B568 和 DIN50987）。

2.  镀层层数：多至 5 层。

3. 测量点尺寸：圆形测量点，直径约 0.2—0.8毫米。

4. 测量时间：通常 30 秒。

5. 测量误差：通常小于 5%，视样品具体情况而定。

6. 可测厚度范围：通常 0.01 微米到 30 微米，视样品组成和镀层结构而定。