一六仪器X射线荧光测厚仪 研发生产厂家 品质保证
江苏一六仪器有限公司研发的能量色散X荧光光谱仪具有稳定的多道脉冲分析采集系统、**的解谱方法和EFP算法结合精准**及变焦结构设计，解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析，欢迎来电咨询！
不同种类的测厚仪的应用
1、薄膜测厚仪：用于测定薄膜、薄片等材料的厚度，测量范围宽、测量精度高，具有数据输出、任意位置置零、公英制转换、自动断电等特点。
2、X射线测厚仪利用X射线穿透被测材料时，X射线的强度的变化与材料的厚度相关的特性，一六仪器从而测定材料的厚度，是一种非接触式的动态计量仪器。
应用领域：
线路板、引线框架及电子元器件接插件检测
镀纯金、K金、铂、银等各种饰品的膜层成分和厚度分析
手表、精密仪表制造行业
钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB
汽车、五金、电子产品等紧固件的表面处理检测
卫浴产品、装饰把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)
电镀液的金属阳离子检测
3、涂层测厚仪：用于测量铁及非铁金属基体上涂层的厚度.
一六仪器---镀层测厚仪|光谱测厚仪|X-ray测厚仪|X荧光测厚仪|凃层膜厚仪
仪器规格：
外形尺寸 ：550 mm x 480mm x 470 mm （长x宽x高）
样品仓尺寸 ：500mm×360 mm ×215mm （长x宽x高）
仪器重量 ：55kg
供电电源 ：交流220±5V
da功率 ：330W
环境温度：15℃-30℃
环境相对湿度：<70%
X射线测厚仪测量精度的影响因素有哪些
第四，膜厚测试仪，在生产过程中，补偿值也会对X射线测厚仪的测量精度造成影响。我们利用测厚仪测量是，会事先给测厚仪输入一个补偿值，让测量值与实际值相等。在这个过程中，操作者首先对板材进行测量，但是操作者使用量尺的方式不同，就会造成补偿值的大小不等，会形**为的误差。只有在进行测量时，测厚仪，操作者认真操作，减少补偿值得测算误差，光谱分析仪，使补偿值接近真实值，提高X射线测厚仪的测量精度。
一六仪器 国内外通力合作打造高性价比X荧光测厚仪 稳定的多道脉冲分析采集系统，专利独特聚焦和变距设计，多元EFP算法，简便快速测试各种涂镀层的厚度及成分比例
测厚仪的测试方法主要有：磁性测厚法，测厚法，电解测厚法，涡流测厚法，超声波测厚法。
测量注意事项：1.测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。
2.测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。
3在测量时要保持压力的恒定，否则会影响测量的读数
4.在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触，因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。
光谱测厚仪-测厚仪-一六仪器(查看)由江苏一六仪器有限公司提供。江苏一六仪器有限公司是一家从事“测厚仪,标准片”的公司。自成立以来，我们坚持以“诚信为本，稳健经营”的方针，勇于参与市场的良性竞争，使“江苏一六仪器”品牌拥有良好口碑。我们坚持“服务为先，用户至上”的原则，使一六仪器在专用仪器仪表中赢得了众的客户的信任，树立了良好的企业形象。 特别说明：本信息的图片和资料仅供参考，欢迎联系我们索取准确的资料，谢谢！
