镀层膜厚仪-莆田测厚仪-一六仪器

一六仪器---镀层测厚仪|光谱测厚仪|X-ray测厚仪|X荧光测厚仪|凃层膜厚仪

仪器规格：

外形尺寸 ：550 mm x 480mm x 470 mm （长x宽x高）

样品仓尺寸 ：500mm×360 mm ×215mm （长x宽x高）

仪器重量 ：55kg

供电电源 ：交流220±5V

da功率 ：330W

环境温度：15℃-30℃

环境相对湿度：<70%

测厚仪和膜厚仪一样吗

   测厚仪和膜厚仪是不一样的，膜厚仪属于测厚仪的分类，也就是说测厚仪是膜厚仪的上司一样，对此我们也可以来了解下测厚仪跟膜厚仪的一些概念：

测厚仪按原理分类:激光测厚仪、超声波测厚仪、X射线测厚仪、压力测厚仪、白光干涉测厚仪、电解式测厚仪、机械接触式测厚仪。

测厚仪的原理：超声波测厚仪是根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量，当探头发射超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头，通过准确测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。

一六仪器  国内外通力合作打造高性价比X荧光测厚仪  

一六仪器研发生产的X荧光光谱仪，荧光测厚仪，稳定的多道脉冲分析采集系统，专利独特聚焦和变距设计，多元EFP算法，简便快速测试各种涂镀层的厚度及成分比例

涂层测厚仪操作规程有哪些

   我们在使用涂层测厚仪时，莆田测厚仪，如果不了解涂层测厚仪的操作规程，那么就很容易出现一些问题，甚至严重的可能会对自身产生威胁，镀层膜厚仪，那么涂层测厚仪的操作规程有哪些，下面就来了解下先：

  一、技术参数

  采用了磁性和涡流两种测厚方法。通过选择相应的测头，光谱膜厚仪，即可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度，又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度；

  测量范围：（0~1250）μm（F1、N1测头），F10测头可达10mm；

  分辨率：0.1μm（F1、N1测头）

  示值精度：±（3％H+1）μm；H为被测涂层厚度

  显示方法：高对比度的段码液晶显示，高亮度EL背光；

  存储容量：可存储20组（每组多50个测量数值）测量数据

  单位制：公制μm、英制（mil）、可自由转换 ? 工作电压：3V（2节5号碱性电池）

  持续工作时间：大于200小时（不开背光灯）

  通讯接口：USB1.1，可与PC机连接、通讯

一六仪器---镀层测厚仪|光谱测厚仪|X-ray测厚仪|X荧光测厚仪|凃层膜厚仪

性能优势：

 下照式设计：可以快速方便地**对焦样品。

 无损变焦检测:可对各种异形凹槽进行无损检测，凹槽深度范围0-90mm。

 微聚焦射线装置：可检测面积小于0.002mm2的样品，可测试各微小的部件。

 精密微型滑轨：快速精准**样品。

 EFP**算法软件：多层多元素，甚至有同种元素在不同层也难不倒EFP算法软件。

X射线测厚仪应用在哪些方面

适用范围：生产铝板、铜板、钢板等冶金材料为产品的企业，可以与轧机配套，应用于热轧、铸轧、冷轧、箔轧。其中， x射线测厚仪还可以用于冷轧、箔轧和部分热轧的轧机生产过程中对板材厚度进行自动控制。

    为了让我们生产的产品更符合客户的要求，那么找到适用于我们产品的测厚仪就非常重要了，因此如果不了解应该使用哪种测厚仪，较好的方法就是咨询**，在**的角度上给你一个建议，也可以了解下产品信息。