光谱膜厚仪-测厚仪-一六仪器有限公司(查看)

江苏一六仪器   X荧光光谱测厚仪

应用领域：

线路板、引线框架及电子元器件接插件检测

镀纯金、K金、铂、银等各种饰品的膜层成分和厚度分析

手表、精密仪表制造行业

钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeAIB

汽车、五金、电子产品等紧固件的表面处理检测

X射线测厚仪的安全问题：

其实从科学的角度分析，20Kv的X射线能量本身就很低，不知道你见过牙片机吗？那个还60KV以上呢，从你给的这个数值来看应该是测量纸或者铝箔之类的低密度、很薄的物品的，这样看来，即便这中能量的X射线一直不停的对直你本人进行照射都不会有问题，何况还是折射和衍射，折射和衍射后的能量与原来的能量比是非常非常低的，200CI的Co-60源产生的射线，经过6次折射可以达到环境水平，可见能量损耗之强，衍射就更不用说了 ，这种能量的X射线根本就不会有衍射产生的，不用担心，所以，切莫恐慌。

一六仪器  国内外通力合作打造高性价比X荧光测厚仪  

一六仪器研发生产的X荧光光谱仪，镀层测厚仪，稳定的多道脉冲分析采集系统，专利独特聚焦和变距设计，多元EFP算法，简便快速测试各种涂镀层的厚度及成分比例

涂层测厚仪操作规程有哪些

   我们在使用涂层测厚仪时，如果不了解涂层测厚仪的操作规程，光谱膜厚仪，那么就很容易出现一些问题，甚至严重的可能会对自身产生威胁，测厚仪厂家，那么涂层测厚仪的操作规程有哪些，下面就来了解下先：

  一、技术参数

  采用了磁性和涡流两种测厚方法。通过选择相应的测头，即可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度，又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度；

  测量范围：（0~1250）μm（F1、N1测头），F10测头可达10mm；

  分辨率：0.1μm（F1、N1测头）

  示值精度：±（3％H+1）μm；H为被测涂层厚度

  显示方法：高对比度的段码液晶显示，高亮度EL背光；

  存储容量：可存储20组（每组多50个测量数值）测量数据

  单位制：公制μm、英制（mil）、可自由转换 ? 工作电压：3V（2节5号碱性电池）

  持续工作时间：大于200小时（不开背光灯）

  通讯接口：USB1.1，可与PC机连接、通讯

一六仪器  光谱测厚仪研发生产厂  一六仪器一liu品质  可同时检测多层材料镀层厚度(含有机物)及成分.操作简单方便.厚度含量测试只需要几秒钟，测厚仪，多小多复杂的样品轻松搞定，欢迎来电咨询!

激光测厚仪一般可以测量到多少的厚度

激光测厚仪测量产品的厚度，对于较大能够测量多大的厚度来说，我们就应该先了解下激光测厚仪的技术参数，如果想要更准确点，那就可以直接咨询厂家：

     测厚原理

     测厚模块由两个激光位移传感器上下对射的方式组成的，上下的两个传感器分别测量被测体上表面的位置和下表面的位置，通过计算得到被测体的厚度。

     激光测厚仪的优点在于它采用的是非接触的测量，相对接触式测厚仪更准准，不会因为磨损而损失精度。