检测开关使用初期的故障，以光电开关、接近开关等为主体的检测开关，半导体一般会在使用初期发生故障。其原因是使用在回路中的半导体，在制造中受到种种应力而导致在使用开始后的短期内发生破损。发现不良现象时，应事先与负荷并联并安装分流电阻。
使用初期故障的发生时间是根据制造方法的不同而不同，不能一概而论，一般多发生在使用开始后的一星期到10天内。
标准检测开关的寿命周期在1万至3万次制动之间，检测开关定制，而普通测试开关可以达到10万次制动周期。
检测开关外观较小，设计的多样性对于它们满足不同应用需求的能力，检测开关订做，变种包括表面贴装和通孔型、嵌入式和微动式、杠杆驱动和超行程式，重庆检测开关，以及具有顶部、侧面、左侧和右侧制动的钟摆制动设计。检测开关可作为滑动使用。经定制可满足任何标准。也用于MP4和视频播放器、电子书和多媒体电话的关机和开机功能等。
检测开关是跟其它电路元件连接一起的，用来检测元件或电路的参数（如电流、电压等）的一种开关。 干扰波导致的破损，由干扰波带来的破损是慢慢形成的，因此在开始使用后的一个月或二三个月后发生破损是极其普通的。因此，在该期间发生破损时，其原因则可判断为干扰波。电感负载开闭时发生的检测开关的瞬间错误动作是由干扰波造成的。
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