扫描电子显微镜对样品的要求:
首先一点,不会被电子束分解;
其次第二点,在电子束扫描下热稳定性要好;
第三点,可以提供导电还有导热通道;
第四点,大小和厚度要适合使用于样品台的安装
第五点,电镜测试机构,观察面应该清洁并且无污染物;
第六点,进行微区成分分析的表面应该平整;
第七点,磁性试样要预先去磁,是为了避免观察的时候电子束受到磁场的影响。
扫描电子显微镜的应用
扫描电子显微镜的应用
扫描电子显微镜广泛用于材料科学(金属材料、非金属材料、纳米材料)、冶金、生物学、***、半导体材料与器件、地质勘探、病虫害的防治、灾害(火灾、失效分析)鉴定、宝石鉴定、工业生产中的产品质量鉴定及生产工艺控制等。
显微镜在材料科学、金属材料、陶瓷材料半导体材料、化学材料等领域,进行材料的微观形貌、***、成分分析。各种材料的形貌***观察,材料断口分析和失效分析,材料实时微区成分分析,元素定量、定性成分分析,快速的多元素面扫描和线扫描分布测量,晶体/晶粒的相鉴定,电镜测试中心,晶粒尺寸、形状分析,晶体、晶粒取向测量。
其工作原理为:在高真空的镜筒中,由电子产生的电子束经电子会聚透镜聚焦成细束后,承德电镜测试,在样品表面逐点进行扫描轰击,产生一系列电子信息(二次电子、背反射电子、透射电子、吸收电子等),由探测器将各种电子信号接收后经电子放大器放大后输入由显像管栅极控制的显像管。
扫描电子显微镜的原理介绍: 扫描电子显微镜是一种利用高能聚焦电子束扫描样品表面,从而获得样品信息的电子显微镜。因此其使用电子束为照明源,电子束在样品表面扫描,利用电子还有物质作用所产生的信息结合电子光学原理进行成像。判断扫描电镜性能主要根据分辨率还有有效放大倍数。分辨率也就是可以分辨的小距离。扫描电子显微镜(SEM)是一种介于透射电子显微镜与光学显微镜之间的一种观察手段。它是运用聚焦十分窄的高能电子束来扫描样品,通过光束合物质间的相互作用,来激发各种物理信息,对这些信息收集、放大还有再成像为了达到对物质微观形貌表征的目的。
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