非接触膜厚测量仪———广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家
光学膜厚测量仪
光学膜厚仪是通过测量一定波长内光线垂直入射到样品表面时，薄膜表面的反射光来测量薄膜的厚度、粗糙度及光学常数。由于光学测量膜厚方法准确、无***，且光谱反射法比椭偏仪操作简单、测试速度快，适合测量具有结构的薄膜。
设备性能指标：
1、测量薄膜厚度范围：4nm～30um（使用10x、15x物镜，样品折射率为1.5左右时，4nm～2um（使用40x物镜）；
2、测试面积：光栏尺寸（250um）/物镜倍率；
3、该设备显微镜物镜：5x、10x、15x、40x。其中5x物镜用于寻找测试区域，10x和15x物镜用于测试薄膜厚度；
4、40x物镜用于测试厚度低于2um的薄膜厚度；
5、测试精度：测试膜层总厚度的0.2%或2nm中的较大者；
6、光源：灯、钨灯；
7、测试波长范围：190nm～1100nm；
8、大测试样品尺寸：8寸。
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光谱膜厚测量仪常用类型及准确操作的小技巧
基体金属特性对于涡流方法，标准片基体金属的电性质，应当与试件基体金属的电性质相似。
检查基体金属厚度是否超过临界厚度，无损检测 如果没有，可采用3.3中的某种方法进行校准。
不应在紧靠试件的突变处，非接触膜厚测量仪哪家好，如边缘、洞和内转角等处进行测量。不应在试件的弯曲表面上测量。
通常由于光谱膜厚测量仪的每次读数并不完全相同，因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异，非接触膜厚测量仪价格，也要求在任一给定的面积内进行多次测量，表面粗造时更应如此。
测量前，应表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀产物等，但不要除去任何覆盖层物质。
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光学薄膜测厚仪的工作原理及其使用优点
随着科技社会发展，光学的应用也越来越广泛，膜厚测厚仪行业发展也越来越好。其中就有大众所知的光学膜厚测量仪。它利用光学的特点，能够直接检测出物体透明或者半透明涂层的厚度。
光学膜厚测量仪所利用的工作原理，便是光的折射与反射。接下来详细说说光学薄膜测厚仪的工作原理及其使用优点。
这种仪器在测量时，摆放在被测件的上方，从仪器的测头部分发射出垂直向下的可视光线。其中一部分光会在膜的表面形成反射，东营非接触膜厚测量仪，另一部分则会透过被测试的薄膜，在薄膜与衬底之间的界面形成反射，非接触膜厚测量仪批发，薄膜表面以及薄膜的底部同时反射的光会造成干涉的现象。仪器便是利用了这一现象，从而测量出薄膜的厚度。
厚度的测量看似简单，实测上所利用的光反射原理，却是需要经过一系列的设计才能达到如此理想状态。如此光学膜厚测量仪的使用，便也有着其它传统测厚仪所没有的优点。
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