




激光膜厚仪———广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家
光学薄膜测厚仪的工作原理及其使用优点
随着科技社会发展,光学的应用也越来越广泛,光谱激光膜厚仪,膜厚测厚仪行业发展也越来越好。其中就有大众所知的光学膜厚测量仪。它利用光学的特点,能够直接检测出物体透明或者半透明涂层的厚度。
光学膜厚测量仪所利用的工作原理,便是光的折射与反射。接下来详细说说光学薄膜测厚仪的工作原理及其使用优点。
这种仪器在测量时,分光激光膜厚仪,摆放在被测件的上方,从仪器的测头部分发射出垂直向下的可视光线。其中一部分光会在膜的表面形成反射,另一部分则会透过被测试的薄膜,在薄膜与衬底之间的界面形成反射,薄膜表面以及薄膜的底部同时反射的光会造成干涉的现象。仪器便是利用了这一现象,从而测量出薄膜的厚度。
厚度的测量看似简单,实测上所利用的光反射原理,却是需要经过一系列的设计才能达到如此理想状态。如此光学膜厚测量仪的使用,便也有着其它传统测厚仪所没有的优点。
欢迎咨询景颐光电了解更多激光膜厚仪
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涂层膜厚仪常见问题及注意事项
校准后仪器依旧出现偏差
这样的问题也是比较常见的。一般来说用户都是使用测厚仪随机校准基体进行校准,这样就要求用户自己的产品的基体与随机基体的材料完全相同,这种情况基本上不可能的。所以,河北激光膜厚仪,客户应用选择与待测样品基体一致的材料(没有涂层或镀层)上进行零点校准,再在上面用校正块、塑料薄膜进行校准,非接触式激光膜厚仪,这次测量数据才能准确。
在检定涂层膜厚仪的时候,检定员都有一套准确的校准片来检定仪器,涂层膜厚仪检定合格后,但是很多用户在检定时都没有送检以前使用的校准片(一般是塑料薄片),我们在实际使用过程中只有使用准确的校准片,这样一来做校准才有意义,因为校准片是塑料片,难免磨损,建议2年左右换一片通过***检定的标准片。
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光学薄膜测厚仪的工作原理及其使用优点
随着科技社会发展,光学的应用也越来越广泛,膜厚测厚仪行业发展也越来越好。
它能够避免前期的样品处理,甚至不需要样品来进行试样工作。
传统的测厚仪,在测量物件时,需要进行样品的预处理,使样品与被测量物件一致,在测量时直接应用于样品测量。而光学测厚仪是直接应用于被测量物体。这样的一个过程便为我们节省了不少的工作以及资源。
利用光学膜厚测量仪,它可以避免了被测量物件的损坏。之所以普通传统的测厚仪需要用到样品来进行试测,就是因为在测量时,会对物体造成一定程度的表面损坏,为了避免物件的损坏,才会需要应用样品。而光学的测厚仪,虽然直接应用于物件表面,但其它出来的光却是一样没有实质的事物,在测量的时候并不会对物件造成什么样的损伤。
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