光学膜厚测试仪———广州景颐光电科技有限公司是一家专门做膜厚仪的厂家
膜厚测量仪测量的基本原理
在膜厚测量仪中，比较流行的测量原理就是电涡流测量原理，我们一起来对电涡流测量原理进行比较详尽的学习，光学膜厚测试仪厂家，高频的交流信号一般会在侧头线圈中产生一定的电磁场，光学膜厚测试仪批发，当测试的探头靠近导体的时候，就会在它的附加产生涡流。
如果测试探头离导体的基体越近，它的涡流就会越大，反射阻抗肯定也会更大。事实上，这是一个反馈作用的过程，这个过程中表征了测试探头与导电基体之间距离的大小，换句话说，这就是导体导电基体上非导电覆层厚度的大小。
采用电涡流测试的原理，原则上需要对导体上的非导电体覆盖层均可以进行测量，技术人员告诉我们，覆层材料是有一定的导电性的，通过校准也是可以同时进行测量的，不过在这其中，有一个比较明显的要求就是两个的导电率是相差3到5倍左右。
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涂层膜厚仪常见问题及注意事项
涂层厚度测试检验漆膜涂装质量的重要方式，很多用户在使用涂层膜厚仪时，宣城光学膜厚测试仪，由于没有严格按照说明书进行操作，就可能出现测量结果不准确的问题。
经过检定的涂层膜厚仪有效期为一年，在这一年里使用仪器进行测量基本上是没有问题的。
在实际的使用过程中，测量前都需要对仪器进行校准，如果未进行校准，长时间的使用就会导致仪器测量结果出现3%-10%的误差。
如果测量值比较大，可能误差并不明显，光学膜厚测试仪哪家好，但是测试值比较小，那么就很容易发现仪器测量误差问题。所以每次使用测厚仪前都须对其进行校准，建议涂层膜厚仪的鉴定周期一般为一年。
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膜厚测试仪
膜厚测试仪，分为手持式和台式二种，手持式又有磁感应镀层测厚仪，电涡流镀层测厚仪，荧光X射线仪镀层测厚仪。
手持式的磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。
台式的荧光X射线膜厚测试仪，是通过一次X射线穿透金属元素样品时·产生低能量的光子，俗称为二次荧光，在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值。
采用磁感应原理时，利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小，来表示其覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。
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