芯片的背部减薄制程
1. Grinding制程：
对外延片以Lapping的方式虽然加工品质较好，但是移除率太低，也只能达到3um/min左右，如果全程使用Lapping的话，加工就需耗时约2h，时间成本过高。目前的解决方式是在Lapping之前加入Grinding的制程，通过钻石砂轮与减薄机的配合来达到快速减薄的目的。
2. Lapping制程
减薄之后再使用6um左右的多晶钻石液配合树脂铜盘，既能达到较高的移除率，又能修复Grinding制程留下的较深刮伤。一般来说切割过程中发生裂片都是由于Grinding制程中较深的刮伤没有去除，因此此时对钻石液的要求也比较高。
除了裂片之外，有些芯片厂家为了增加芯片的亮度，在Lapping的制程之后还会在外延片背面镀铜，此时对Lapping之后的表面提出了更高的要求。虽然有些刮伤不会引起裂片，但是会影响背镀的效果。此时可以采用3um多晶钻石液或者更小的细微性来进行Lapping制程，以达到更好的表面品质。
光伏组件老化箱又称湿冻试验箱、光伏湿冻试验箱等，英岗探针回收，该设备适用于光伏组件（太阳能电池板）、光伏玻璃、薄膜组件、太阳能电池等做热循环、湿冻循环、高温高湿双85试验，以确认组件能否承受高温高湿之后随之的负温度影响，以及对于温度重复变化时引起的疲劳和热失效，另外确定光伏组件曝露在高湿度下而产生的热应力及能够抵抗湿气长期渗透的能力.是光伏组件行业必不可少的测试设备。
YASELINE光伏组件老化箱技术指标：
温度范围：-60℃～+100℃
温度波动度：±0.5℃
温度偏差：±2℃
升、降温速率：按照IEC 61646试验标准(见0条)
湿度试验：85℃，85% R.H
湿度范围：20%～95% R.H
样品承重：太阳能薄膜组件： 6片 180kg、铝合金型材置物架：280kg
试验方法：a.热循环试验 b.湿-冻试验 c.湿-热试验
定时功能：0.1～999.9（H、M、S）可调
户外测试平台设计方案
2.1 光伏组件户外性能测试要求
光伏组件输出特性主要受太阳辐照度及环境温度的影响。当光伏组件工作于户外特定环境时，需测量环境辐照度及组件温度。传统的IV特性曲线测量方法是使可编程电子负载工作于恒压或者恒流工作模式，以固定步长扫描，由于光伏组件IV 特性曲线具有类似半导体二极管的对数曲线形状，当光伏组件工作于恒流段或恒压段时，仅利用恒流或恒压工作模式的电子负载测量将造成曲线相应部分的测量点稀少。此外，为测试光伏组件户外性能，还需根据用户设定，保持被测光伏组件长期工作于开路、短路或大功率等工作状态，因此不可使用传统的现场电容充电或电子负载瞬时测量IV特性曲线的方法。
