对比试样校准根据测量原理分类
1.磁性测厚法:适用导磁材料上的非导磁层厚度测量.导磁材料一般为:钢﹨铁﹨银﹨镍.此种方法测量精度高
2.涡流测厚法:适用导电金属上的非导电层厚度测量，此种方法较磁性测厚法精度低。
3.超声波测厚法:目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的，国外个别厂家有这样的仪器，对比试样/块校准，适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合.但一般价格昂贵﹨测量精度也不高。
4.电解测厚法:此方法有别于以上三种，不属于无损检测，需要***涂镀层.一般精度也不高.测量起来较其他几种麻烦。
5.射线测厚法:此种仪器价格非常昂贵(一般在10万RMB以上)，适用于一些特殊场合。国内目前使用较为普遍的是1﹨2两种方法。
对比试样校准类型
1.涡流-当载有高频电流的探头线圈置于被测金属表面时，由于高频磁场的作用而使金属体内产生涡流，此涡流所产生的磁场又反作用于探头线圈，使其阻抗发生变化，此变化量与探头线圈离金属表面的距离（即覆盖层的厚度）有关，因而根据探头线圈阻抗的变化可间接测量金属表面覆盖层的厚度。常用于测定铝材上的氧化膜或铝、铜表面上其他绝缘覆盖层的厚度。
2.同位素-利用物质厚度不同对辐射的吸收与散射不同的原理，可以测定薄钢板、薄铜板、薄铝板、硅钢片、合金片等金属材料及橡胶片，塑料膜，纸张等的厚度。常用的同位素射线有γ射线、β射线等。
对比试样校准测量方法
覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，对比试样/块校准公司，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，对比试样/块校准方案，X射线荧光法，β射线反向散射法，对比试样/块校准机构，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中有五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。 X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有射线源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。
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