一、一般电容故障现象：电容开路、击穿、漏电、通电后击穿
故障原因
1、元器件开路
电容器开路后，没有电容器的作用。不同电路中的电容器出现开路故障后，电路的具体故障现象不同。如滤波电容开路后出现交流声，耦合电容开路后无声等。
2、元器件击穿
电容器击穿后，PFN-C电容器购买，失去电容器的作用，电容器两根引脚之间为通路，电容器的隔直作用消失，电路的直流电路出现故障，从而影响交流工作状态。
3、元器件漏电
电容器漏电时，导致电容器两极板之间绝缘性能下降，两极板之间存在漏电阻，有直流电流通过电容器，电容器的隔直性能变差，电容器的容量下降。当耦合电容器漏电时，将造成电路噪声大。这是小电容器中故障发生率比较高的故障，而且故障检测困难。
4、通电后击穿
电容器加上工作电压后击穿，断电后它又表现为不击穿，万用表检测时它不表现击穿的特征，通电情况下测量电容两端的直流电压为零或者很低，电容性能变坏。
***和耦合
（1）信号耦合
由于电容器通过交流电而阻隔直流信号，宝应PFN-C电容器，它们通常用于分离信号的交流和直流分量。该方法称为AC耦合或“电容耦合”。
（2）去耦
去耦电容器是用于保护电路的一部分免受另一电路的影响的电容器，例如***噪声或瞬变。由其他电路元件引起的噪声通过电容器分流，减少了对电路的其余部件的影响。
（3）噪声***，尖峰脉冲和缓冲器
当感应电路打开时，通过电感的电流会迅速塌陷，在开关或继电器的开路上产生大的电压。如果电感足够大，则能量可能产生火花，导致接触点氧化。新打开的电路上的缓冲电容器为这种脉冲绕过接触点创造了一条路径，从而保持了其寿命。缓冲电容器通常与串联的低电阻一起使用。这种电阻器、电容器组合可在单个封装中使用。
对于双星形接线的电容器组的中性线上，PFN-C电容器***，以及多个电容器的串接线上，还应单独进行放电。
电容器在变电所各种设备中属于可靠性比较薄弱的电器，它比同级电压的其他设备的绝缘较为薄弱，内部元件发热较多，而散热情况又欠佳，内部故障机会较多，制造电力电容器内部材料的可燃物成分又大，所以运行中极易着火。因此，对电力电容器的运行应尽可能地创造良好的低温和通风条件。
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