CMS2涂镀层测厚仪

产品介绍：

   COULOSCOPE CMS2 系列仪器通过电解退镀方式测量镀层厚度。还可使用库仑法***测定任何类型底材上的多镀层厚度。CMS2 STEP 版本可对单种镀层进行标准的STEP测试，以检测电位差（如多层镍涂层的质量控制）。

应用：

1、金属和非金属底材上任何类型的金属镀层

2、单层或多层的镀层厚度测量

3、特别适用于通过STEP测试进行多层镍的测量

4、适用于 0.05 µm 至 40 µm的镀层厚度测量

特性：

1、使用准确性高的电解退镀技术（库仑法），***的测量多镀层的厚度

2、图形显示的交互方式，易于操作

3、适用性广泛：可测量金属和非金属底材上的镀层厚度，也适合测量多镀层厚度

4、提供***的附件产品供您选择，可满足特定需求