





离子束刻蚀机
离子束分析具有一定能量的离子与物质相互作用会使其发射电子、光子、X射线等,还可能发生弹性散射、非弹性散射以及核反应,产生反弹离子、反冲核、γ射线、氢核、氚核、粒子等核反应产物,可以提供有关该物质的组分、结构和状态等信息。利用这些信息来分析样品统称离子束分析。在离子束分析方法中,比较成熟的有背散射分析X射线荧光分析、核反应分析和沟道效应(见沟道效应和阻塞效应)与其他分析相结合的分析方法等。此外,利用低能离子束还可作表面成分分析,如离子散射谱(ZSS)、次级离子质谱(SZMS)等。超灵敏质谱(质谱)、带电粒子活化分析、离子激发光谱、离子激发俄歇电子谱等正在发展中。用于离子束分析的MV级已有专门的商业化设备。


离子束刻蚀机的特点
刻蚀过程是纯物理溅射,可以刻蚀任何固体材料;平行离子束刻蚀,高各向异性;无钻蚀;精度高,分辨率lt;0.01um.
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表面抛光
离子束能完成机械加工中的***后一道工序一-精抛光,以消除机械加工所产生的刻痕和表面应力。加工时只要严格选择溅射参数(入射离子能量、离子质量、离子入射角、样品表面温度等),光学零件就可以获得较佳的表面质量,且散射光较小。离子束拋光激光棒和光学元件的表面,表面可以达到较高的均匀和一致性,而且元件本身在工艺过程中也不会被污染。


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