ASTRO-CHY-C2A测厚仪采用机械接触式测量方式，严格符合标准要求，有效保证了测试的规范性和准确性。***适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度***测量。
***技术
- < >< >< >< >< >< >< >PVC操作面板，方便用户进行试验操作和数据查看< >RS232接口，便于系统与电脑的外部连接和数据传输< >LystemTM实验室数据共享系统，统一管理试验结果和试验报告
基础应用
薄膜、薄片、隔膜
纸张、纸板
箔片、硅片
金属片
纺织材料
固体电绝缘体
无纺布材料，如尿不湿、卫生巾片材等
扩展应用
（需特殊附件
或改制）
量程扩展至5 mm，12 mm，适用于测试薄膜、片材的厚度
曲面测量头，满足特殊场合的厚度测试
技术指标
项目
指标
测试范围
0～5 mm（常规）
0～6 mm；12 mm（可选）
分辨率
0.1 μm
测量速度
10 次/min （可调）
测量压力
17.5&plu***n;1 kPa（薄膜）；50&plu***n;1 kPa（纸张）
接触面积
50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张）
注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制
电源
AC 220 V 50 Hz
外形尺寸
461 mm (L) × 334 mm (W) × 357 mm (H)
净重
32 kg
产品配置
标准配置
主机、标准量块一件
选购件
***软件、通信电缆、测量头、配重砝码、微型打印机
注：ASTRO Labthink始终致力于产品性能和功能的创新及改进，基于该原因，产品技术规格亦会相应改变。上述情况恕不另行通知，您可登录获取***新信息。本公司保留修改权与***终解释权。