Noiseken ESS-6002半导体器件静电放电模拟试验器
ESS-6002/6008 半导体器件静电放电模拟试验器
ESS-6002/6008 半导体器件静电放电模拟试验器
特征考查实际上给电子设备安装半导体元件时，半导体元件所受到的抗静电***能力的静电试验器。
半导体元件因受静电可能发生内部配线，绝缘膜的熔断，***等而导致产品特性裂化，误动作的现象。
对于此静电***试验，只需利用1 台弊司小型ESS-600X 更换探头就可简单实行***带电型，机器带电型的试验。还有，可用选件中的精密型支架可对超细密间距元件做半自动的试验。
***适合用于进行LED,LCD, 光元件等电子部品的静电***耐性试验。
精密型支架
- 可做***高输出电压&plu***n;8KV 试验（ESS-6008）
- 可做出留有余量的试验
- 可对各种间距的受测元件进行静电施加试验
- 可搭配精密测台，以半自动（Y 轴）的脚位移动而正确的对待
- 测物施加静电
- 可做***低试验电压&plu***n;10V 的试验（ESS-6002）
- 对于低电压驱动元件的评价可从10V 开始以1V 的步长予施加
- 可对应规格
对应标准
| ***模型试验 (HBM) | 机械模型试验 (MM) |
| AEC-Q100-002-Rev.D Jul.2003 | AEC-Q100-003-REV-E Jul.2003 |
| ESDA ANSI/EOS/ESD-STM5.1-2001 | ESDA ANSI/ESD STM5.2-1999 |
| IEC 61340-3-1Ed.1.0 2002 | IEC 61340-3-2 Ed.1.0-2002 |
| IEC 60749-26 Ed.1.0 2003 | IEC 60749-27 Ed.1.0 2003 |
| JEDEC JESD22-A114E Jan 2007 | JEDEC JESD22-A115A Oct.1997 |
| JEITA ***J ED-4701/300 Aug.2001 Test Method304 | JEITA ***J ED-4701/300 Aug.2001 |
| MIL-STD-883G Method 3015.7 Mar.1989 |
规格半导体器件静电放电模拟试验器 (ESS-6002/ESS-6008)
项目 |
功能/性能 | |
| ESS-6002 | ESS-6008 | |
| 输出电压 | 10～2000V&plu***n;10％（ESS-6002） 1V步进 | 100～8000V&plu***n;10％（ESS-6008） 10V步进 |
| 输出极性 | 正或负 | |
| 重复周期 | 0.3～99s&plu***n;10％ 到10s为止0.1s步进 10s以后1s步进 |
|
| 放电次数 | 1～99次/连续 | |
| Automatic output voltage ramping | ***ailable | |
| 尺寸 | （W）340×(H)×199×（D）300mm（不含突起部分） | |
| 尺寸 | 约6kg | |
简易型探针台 <18-00075A>
| 项目 | 功能/性能 |
| 尺寸/重量（探针台主机） | (W)200×(H)330×(D)290mm/约1.5kg |
| 尺寸/重量（简易放电板） | (W)100×(H)27×(D)180mm（不含突起部）/约200g |
| 钳口尺寸 | 110mm |
| 其他 | POM造V型部件1个 标准附件 |
半自动精密型探针台 <18-00076A>
由于半自动精密型探针台的***小分辨率为0.01mm，所以可以简单地对毫米间距和英寸间距等***间距的半导体进行试验
| 项目 | 功能/性能 |
| 尺寸/重量 | (W)250×(H)400×(D)300mm/约7kg |
| 可对应IC | ***大尺寸：40mm角 ***小导线间距：0.4mm |
| X轴 | 手动 移动量：20mm ×燕尾槽、进给螺杆 |
| Y轴 | 电动（***大速度：13mm/s）移动量：40mm（Y分辨率：0.01mm）*步进马达&滚珠螺杆 |
| θ轴 | 手动 移动量：360° |
| Z axis | 手动 移动量：20mm *内置弹簧下压式 |
| 回原点 | 手动 |
Noiseken ESS-6002半导体器件静电放电模拟试验器
型号：Noiseken ESS-6002
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