Fischerscope X-RAY XUL除了可以测量镀层厚度外，还可以计算合金层中各元素的含量。至于需要测量电镀槽内
的金属离子的浓度也是十分简单。 XUL 是结合了测量镀层厚度及物料分析双功能在一整体的设计。此仪器是采用
能量散射X-射线荧光测量原理，符合国际DINENISO3497及ASTM B568标准来进行非***及不接触的测量。XAN-DDP
X-射线光谱分析是透过次级辐射所产生的不同能量特性来辨认元素；其原理是由X-射线管产生初级X-射线荧光照
射在受检物质表面上时，元素的电子层内的电子将被激发，而因为能量的原因；一连串的电子补充到被激发的电
子“空档”。由于能量的改变，特定的元素便会产生特定的辐射，再用半导体或其他合适的比例***来收集辐
射讯号，从能量及强度的大小进行分析便可以识别元素及进行定量分析了。 本公司***维修膜厚仪***管更换 还
可为客户测试对比样品 出售/回收二手FISCHER膜厚仪等等锦霖公司：联系人：谢生 186 8233 5195