PCM半导体参数在片测试软件
AW－PCM半导体参数在片测试软件的主要特点：
u 由Allwin21公司自行研制开发，自主版权。
u AW-PCM系统可以测试几乎所有的有源器件、所有的无源器件和一些集成电路参数，并内置了所有有源器件和无源器件的所有测试程序和***的PCM测试方法。
u AW-PCM测试软件可以兼容点测和扫描分析测试等多种测试模式。
u AW-PCM实现了工艺参数管理功能。从测试数据中可以方便地得到各种数据统计情况，便于生成SPC数据和Cp、Cpk数据。
u AW-PCM软件采取了***的数据存储格式，工艺线交互使用和系统升级非常便利。
u 通过对测试数据的统计分析，实现了工艺参数分析和反馈，并可实时“失效分析”。
u 与AW-CIM中心管理模块相结合，测试数据可以得到更好地分析、管理，并可以对关键工艺步骤进行联网控制。
u 器件建模非常便利。
u 系统的测试速度快。
Allwin21经营的半导体设备有快速退火炉RTP（保护气氛热处理炉）Allwin21 AG610 、HP4062/HP4145测试仪;AW-PCM测试软件；半自动探针台EG1034/MP2020；PECVD等离子增强化学气相淀积系统 STS 310 PECVD_allwin21等.公司在北京、南京、广东等地设有办事机构，致力于为客户提供完善的服务与支持。
（Email: peterchen@)