AOI系统包含以下部分构成，照明系统、光学透镜、CCD摄像系统、检测工作台、检 测程序、预存模版、图像处理识别系统、数据记录处理系统构成。其中预存模版是 能体现AOI系统能否匹配生产线的衡量标准，根据CAD程序设定，AOI系统可以自动 获得该生产线的正常品的各项指标及参数，不需要向外采购标准样品，在生产线调 整和改造时，AOI设备也可以随之做出调整，检测更为灵活。
提良率、增产能——AOI设备必不可少。
对高清、超高清晰度和零缺陷电视机和移动 设备的需求,要求平板显示器制造商开发更复杂的面板设计,并实施更严格的生产过 程控制。液晶显示器和OLED显示器的检测,由于某些导体和绝缘体所使用的透明材 料、多层结构和高密度特性以及潜在缺陷的精细性质,对技术提出了截然不同的挑战。
传统人工肉眼翻查缺陷检测方式主观性大，误检、漏检率高。基于数字图像处理的 AOI检测设备具有精度高、速度快、无接触的优点，能够克服人工检测的弊端，在显 示器缺陷检测行业有良好的应用前景，从前道的ITO玻璃检测、背光模组检测，到Cell 贴合、LCD模组的COG设备、对位贴合、切割机、飞针探测设备等，都离不开AOI相 关设备；同时LCD和OLED的检测、测试和维修过程也必须与LCD设备的高生产速度 相匹配,这一要求使得LECD和OLED制造商在新型显示器需要识别设备，将会 拉动对AOI的需求。LCD和OLED易受各种缺陷的影响,其中许多是由于生产中使用的 沉积、光刻和蚀刻工艺所致。在生产过程中检测和修复这些缺陷使制造商能够改进 对其生产过程的监视,避免成本进一步昂贵的材料并大幅度提高其产量。
灯光变化的智能控制人认识物体
是通过光线反射回来的量进行判断，反射量多为亮，反射量少为暗。AOI与人判断原理相同。这个位置的检查直接地支持过程跟踪和特征化。这个阶段的定量过程控制数据包括，印刷偏移和焊锡量信息， 而有关印刷焊锡的定性信息也会产生。断面x射线、或三维X射线测试系统——克服了传输x射线测试系统的缺点，该系统可以做分层断面检测，相当于工业CT。
即用顶部灯光可以得到元件部分的影象。
与此相反，用底部(水平)灯光照射时，元件部分灯光反射出去，焊点部分光线反射到career。即用底部灯光可以得到焊点部分的影象。AOI通过人工光源LED灯光代替自然光，光学透镜和CCD代替人眼，把从光源反射回来的量与已经编好程的标准进行比较、分析和判断。在***T工艺过程的后步骤进行检查，这是目前AOI的选择，因为这个位置可发现全部的装配错误。回流焊后检查提供高度的安全性，因为它识别由锡膏印刷、元件贴装和回流过程引起的错误。
