工作原理
X 射线小角散射（small-angle x-ray scattering，简称：SAXS）是在靠近原光束附近很小角度内电子对X 射线的漫散射现象，也就是在倒易点阵原点附近处电子对X 射线相干散射现象。在20 世纪 30 年代，Mark、Hendricks和Warren 观察纤维素和胶体粉末时发现了SAXS 现象并提出了 SAXS 的原理。此后，Kratky、Guinier、Hosemann、Debye和Porod 等相继建立和发展了 SAXS 理论并确立了SAXS 的应用。SAXS是研究纳米尺度微结构的重要手段。根据SAXS理论，只要体系内存在电子密度不均匀（微结构，或散射体），就会在入射X光束附近的小角度范围内产生相干散射，通过对小角X射线散射图或散射曲线的计算和分析即可推导出微结构的形状、 大小、分布及含量等信息。这些微结构可以是孔洞、粒子、缺陷、材料中的晶粒、非晶粒子结构等，适用的样品可以是气体、液体、 固体。同时，由于X射线具有穿透性，SAXS信号是样品表面和内部众多散射体的统计结果。相对于其它纳米尺度分析表征手段，如SEM、TEM、AFM而言，SAXS具有结果有统计性、测试快速、无损分析、制样简单、适用范围广等优点。他可以弥补XRD（尺寸不同，XRD重点在１nm以下，而SAXS重点在1-100nm），电镜（非统计信息，无法测试固体内部结构），动态光散射或小角激光散射（限于液体低浓度，必须透明），孔隙度仪（无法测试内孔）等手段的不足，共同组成材料纳米级结构的完善评价。
由于光路调整困难和解谱困难，SAXS在2010年之前并不普及。但随着材料学进入纳米量级，这一先进手段正在为越来越多的国内外权威机构采用。如：美国NIST，德国BASF，中国的北京大学化学院，航天703所，吉林大学无机与合成国家重点实验室，南京大学/苏州大学分析测试中心等。仪器制造厂家在光路等硬件和数据处理方面的进步，也为普及这一技术提供了物质基础。
应用
2010年以后，SAXS进入了快速发展阶段。发展的主要领域为电镜，XRD和激光方法无法或很难得到应用的领域（电镜需要冷冻切片且只能30nm以上，XRD需要结晶且只能1nm以下，激光方法代表性差，分辨率差，且无法测形貌，对核壳结构无法测量。而SAXS无需样品准备，可以原状态快速测量。不仅可以测量大小，还可测量核壳结构。因为液体样品信号弱，需要更好的信噪比。）：
胶体化学：表面活性剂大小和分布，自组装胶束大小与形貌，溶液稳定性。
含能材料：内部结构，孔洞（可以测试闭孔）
粉体颗粒：大小和分布，内部结构、形貌。可在悬浮液中测试，也可以固态测试。
生物大分子：蛋白质，自组装
纤维材料：内部缺陷，长程有序结构
高分子材料：相变/微相分离，嵌段聚合物，共混聚合物，表面处理
光电材料：液晶，薄膜
还可以适合于：食品，生物，制药，金属材料等行业的应用。
以上应用不仅进行静态测试，还可以进行动态（随温度、湿度、浓度、时间等的变化）和原位测试（实时检测化学反应过程）。
系统构成
主要配置包含高亮度微焦斑光源，无散射狭缝系统，最新2维CMOS探测器（像素尺寸仅有75um）可以获得极佳信噪比，还配备有多种原位反应样品台，可以实现不同温度/不同时间/不同拉力等原位条件测试环境。
工作说明：
小角X射线散射仪可以原位测试各类样品（固体，液体，粉末等），将样品放置于样品台上，设置试验温度，X射线光源穿透样品产生散射信号，该散射信号由探测器收集，通过软件将二维散射信号转化为一维积分曲线，通过分析结果，可以获得试验样品的内部结构，纳米微结构信息。
高分子中主要应用：
l 溶液中高分子的形态和尺寸
l 胶体粒度分布，形状等
l 高分子中长周期结构，片晶堆积结构大小，结晶层，非晶层厚度
l 高分子材料内部孔洞缺陷（形状、尺寸及其分布）
l 多相聚合物微相相分离研究
l 原位反应，样品可在不同温度/拉力/湿度等条件下研究其内部结构演变