CMI做为***品牌在PCB及电镀行业已形成一个行业标准，华南地区90%以上的大型企业都在使用CMI900系列做为检测镀层厚度的行业工具
X-荧光镀层测厚仪CMI900 金属镀层厚度的***测量
CMI 900 系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器，可应用于材料的涂/镀层
厚度、材料组成、***含量检测等领域，为产品质量控制提供准确、快速的分析.基于Windows XP
中文视窗系统的中文版 ***artLink FP 应用软件包，实现了对CMI900主机的***自动化控制，
技术参数：
CMI 900 X-射线荧光镀层厚度测量仪,在技术上一直以来都***于全世界的测厚行业
A CMI 900 能够测量包含原子序号22至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体,极薄的浸液镀层（银、金、钯、锡等）和其它薄镀层。区别材料并定性或定量测量合金材料的成份百分含量可同时测定***多5层、15 种元素。
B ：***度***于世界，***到0。025um (相对与标准片)
C ：数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求 ；
如在分析报告中插入数据图表、测***置的图象、CAD文件等。
D ：统计功能提供数据平均值、误差分析、***大值、***小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。
CMI900系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状各种尺寸的样品；
E ：可测量任一测量点，***小可达0.025 x 0.051毫米
样品台选择：
CMI900系列采用开槽式样品室，以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用，分别为：
一：手动样品台
1 标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。
2 扩展型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。
3 可调高度型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。
二：自动样品台
1 程控样品台：XYZ轴自动控制。
2 超宽程控样品台：XYZ轴自动控制。
CMI900主要技术规格如下：
No. 主要规格 规格描述
1 X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统
空冷式微聚焦型X射线管，Be窗
标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等
功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准 X射线管功率可编程控制
装备有安全防射线光闸
2 滤光片程控交换系统 根据靶材，标准装备有相应的一次X射线滤光片系统
二次X射线滤光片：3个位置程控交换，Co、Ni、Fe、V等多种材质、多种厚度的二次滤光片任选
位置传感器保护装置，防止样品碰创探测器窗口
3 准直器程控交换系统 ***多可同时装配6种规格的准直器，程序交换控制
多种规格尺寸准直器任选：－圆形，如4、6、8、12、20 mil等－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
4 测量斑点尺寸 在12.7mm聚焦距离时，***小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器)
在12.7mm聚焦距离时，***大测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器)
5 X射线探测系统 封气正比计数器
装备有峰漂移自动校正功能的高速信号处理电路
6 样品室 CMI900
－样品室结构 开槽式样品室
－***大样品台尺寸 610mm x 610mm
－XY轴程控移动范围 标准：152.4 x 177.8mm任选：50.8mm x 152.4mm 50.4mm x 177.8mm 101.6 x 177.8mm 177.8 x 177.8mm 610mm x 610mm
－Z轴程控移动高度 43.18mm XYZ程控时，152.4mmXY轴手动时，269.2mm
－XYZ三轴控制方式 多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制