影响 KOAN 恒温晶振频率漂移（老化）的主要机理
1) 引起晶振频率漂移的是石英谐振器的参数，动态电容和动态电感随时间而变化；
2) 加在石英片的机械应力变化引起的频率漂移，称为驰豫效应；
3) 晶片表面污染和或封装盒内部污染也是造成谐振器老化的一个重要原因；
4) 流过谐振器激励电流的大小对老化率有影响；
5) 振荡电路和恒温控制电路中有源和无源元件的老化也会影响振荡频率的老化率。
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KOAN 恒温晶振 OCXO 的负载效应概念
晶振的负载效应定义为空载输出相对频率与加额定负载后的输出相对频率之差。一般高稳晶振加电阻，电容，电***负载后所引起的相对频率变化大约在 0.2ppb 左右，而恒温晶振的老化率一般也在 0.2ppb/天左右，因此需要设法改善负载效应，以保证负载变化时，振荡器有较高的频率准确度。而负载特性不好的一个主要原因是振荡电路的地线和电源线存在一定的阻抗。
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恒温振荡器
恒温晶体振荡器简称恒温晶振，英文简称为OCXO（Oven Controlled Crystal Oscillator）,是利用恒温槽使晶体振荡器中石英晶体谐振器的温度保持恒定，将由周围温度变化引起的振荡器输出频率变化量削减到较小的晶体振荡器。OCXO是由恒温槽控制电路和振荡器电路构成的。通常人们是利用热敏电阻“电桥"构成的差动串联放大器，来实现温度控制。
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