华科智源IGBT测试仪针对 IGBT 的各种静态参数而研制的智能测试系统；自动化程度高（按照操作人员设定的程序自动工作），计算机可以记录测试结果，测试结果可转化为文本格式存储，测试方法灵活（可测试器件以及单个单元和多单元的模块测试），安全稳定（对设备的工作状态进行全程实时监控并与硬件进行互锁），具有安全保护功能，测试速度方便快捷。否则，需按买方提出的修改意见重新制定出厂试验方案，直至买方评估合格。
大功率半导体器件为何有老化的问题？
任何产品都有设计使用寿命，同一种产品不同的使用环境和是否得到相应的维护，延长产品使用寿命和设备良好运行具有极为重要。因此，测量大电流情况下的各个模块实际技术参数，进行跟踪管理，可有效保障机车中间直流环节可靠运行。功率元件由于经常有大电流往复的冲击，对半导体结构均具有一定的耗损性及***性，若其工作状况又经常在其安全工作区的边缘，更会加速元件的老化程度，故元件老化，就如人的老化一样是不可避免的问题。
为何老化的元件必须尽早发现及尽早更换？
当功率元件老化时，元件的内阻在导通时必定会加大，因而使温度升高，并使其效能降低。长期使用后若温升过高时，会使元件在关闭时的漏电流急遽升高。电流 通过选择不同档位电感，满足0~200A电流输出需求（10ms）。(因漏电流是以温度的二次方的曲线增加)，进而使半导体的接口产生大量崩溃，而将此元件完全烧毁。当元件损毁时，会连带将其驱动电路上的元件或与其并联使用的功率元件一并损伤，所以，必须即早发现更换。
用于安装固定试验回路及单元；主要技术参数要求如下；
?风冷系统；
?可显示主要电气回路参数及传感器测量值；
?可直观监视试验过程，并可兼容高温摄像头；
?防护等级：IP40。
?面板按钮可以进行紧急操作
?机柜颜色：RAL7035
17）压接夹具及其配套系统
?工作压力范围：5～200kN；分辨率0.1kN
?上下极板不平行度小于20μm
?极板平整度小于10μm
?压力可连续调节，施加压力平稳，不可出现加压时压力过冲
?安全技术要求：满足GB 19517—2009***电气设备安全技术规范；
?测试工作电压：10kV（整体设备满足GB 19517—2009标准外，局部绝缘电压应满足测试需求）
18）其他辅件
