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能够很好地解决数字信息处理中对数字信号的观察和测试. 数字系统设计和调试中的一些特殊问题, 例如传输延迟, 竞争冒险, 毛刺干扰等. 分析和验证信息处理的结果, 查找程序编制和运行中的错误, 测量和比较数字逻辑电路的状态. |
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输入特性 输入通道: 32个数据采样通道, 2个外部时钟通道 门限电压: 6个独立可调的门限电压, 调节范围: -6V～+6V, 分辨率: 0.1V 输入阻抗: 电阻＞100kΩ, 电容＜8pf 输入范围: 500mVp-p～20Vp-p 输入保护: 最大输入电压±40V不会损坏 采样存储特性 时序采样: 内部时钟, 采样速率1Hz～100MHz（周期10ns～1s）, 分辨率10ns 状态采样: 外部时钟clk1, 外部时钟clk2 , 采样速率1Hz～35MHz 时钟限定: 外部时钟 clk1, clk2逻辑“与”, 外部时钟clk1, clk2逻辑“或” |
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采样相位: 上升沿, 下降沿 采样目标: 内部码型发生器, 外部信号源 采样控制: 单次采样, 连续重复采样 存储深度: 260k 样点/ 每通道 触发特性 启动条件: 32位启动位选择, 32位启动比较字 启动选择: 选择开关: On/Off 触发条件: 32位触发位选择, 32位触发比较字 触发限定: 选择开关: ＞, ＝, ＜ 事件计数: 1～999次 触发选择: 选择开关: On/Off 存储延时: 1～260000个采样周期 |
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显示特性 屏幕显示: 显示格式: 8通道时序波形, 18行数据列表 波形滚动: 32个通道垂直滚动显示, 256k数据点水平滚动显示 列表滚动: 256k数据行垂直滚动显示 波形缩放: 水平缩放倍数1～100, 比例尺1ns/div～4s/div |
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光标特性 测量光标1: 浮动光标, 在显示窗口内任意浮动, 不随波形或列表一起移动 测量光标2: 粘贴光标, 作为基准点粘贴在波形或列表上, 并随之一起移动 光标测量: 移动测量光标位置可动态显示其数据值及两光标的地址差和时间差 触发光标: 符合触发条件的采样点 查找光标: 符合查找条件的采样点 |
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内部码型发生器 码型种类: 00～15通道为加1计数器, 16～29通道为移位脉冲, 30～31通道用于监测外部时钟clk1和clk2 码型速率: 频率1Hz～50MHz（周期20ns～1s） 分辨率10ns 操作特性 全部按键操作, 旋钮连续调节 通用特性 电源条件: 电压AC220V（1±10％） 频率50Hz（1±5％） 功耗＜30VA 环境条件: 温度0～ 机箱尺寸: 制造工艺: 表面贴装工艺, 大规模集成电路, 可靠性高, 使用寿命长
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