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ST2000-DLXn
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·***优惠的价格
·适合大学和科研中心 |
| 尺寸 | 190 x 265 x 316 mm |
| 重量 | 12Kg |
| 类型 | 手动的 |
| 测量样本大小 | ≤ 4" |
| 测量方法 | 非接触式 |
| 测量原理 | 反射计 |
| 特征 |
测量迅速，操作简单 非接触式，非***方式
***的重复性和再现性
用户易操作界面
每个影像打印和数据保存功能
可测量多达3层
可背面反射
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| 活动范围 | 150 x 120mm(70 x 50mm 移动距离) |
| 测量范围 | 200Å~ 35㎛(根据膜的类型) |
| 光斑尺寸 | 20㎛ 典型值 |
| 测量速度 | 1~2 sec./site |
| 应用领域 |
聚合体: PVA, PET, PP, PR ... 电解质:
 半导体: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS...
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| 选择 | 参考样品(K-MAC or KRISS or NIST) |
| 探头类型 | 三目探头 |
| nosepiece | Quadruple Revolving Mechani*** with Inward Tilt |
| 照明类型 | 12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer |