| 概 述： | 本仪器是一种便携式测量仪,可以快速、无损、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室，也可用于工程现场。配置不同的探头，适用于不同场合。是材料保护和生产控制必备仪器。 |
| 适用范围： | HS系列覆层测厚仪采用了磁性和涡流两种测厚方法，可无损地测量磁性金属基体( 如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。 |
| 主要功能： | 可使用6种测头(F400、F1、F1/90°、F10、N1、CN02)进行测量； 三种校准方法： 一点校准、二点校准、基本校准； 显示分辨率： 0.1μm（测量范围小于100μm） 1μm （测量范围大于100μm） 有两种工作方式：直接方式和成组方式 有两种测量方式：连续测量和单次测量 有两种关机方式：手动关机和自动关机 可设置限界：对限界外的测量值能自动报警，并可用直方图对一批测量值进行分析； 有删除功能：对粗大误差及错误设置可进行删除处理； 打印功能：可打印测量测量值、统计值、限界、直方图 |
| 测量范围： | （1）F400探头、N400探头：0—400μm （2）F1探头、F1/90探头、N1探头：0—1250μm （3）F10探头：0—10000μm （4）CN02探头：10-200μm（根据测量要求选用不同探头） |
| 测量精度： | 不同探头精度要求不同 （1）F400探头、N400探头：一点校准：（2%+0.７）；二点校准：（1%+0.７） （2）F1探头、F1/90探头、N1探头、CN02探头：一点校准：（2%+1）；二点校准：（1%+1） （3）F10探头：一点校准：（2%+10）；二点校准：（1%+10） |
| 使用温度： | 0～40℃ |
| 外型尺寸： | 150×80×30m |
| 重 量： | 250g |
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功能
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HS2100F
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HS2100N
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HS3100
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HS4100
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测量原理
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磁性
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涡流
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磁性/涡流
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磁性/涡流
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测量范围
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标准配置探头（F1/N1)：1～1250μm
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测量精度
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&plu***n;（2%H+1）μm（零点校准）
&plu***n;[(1～3)%H+1] μm（二点校准） |
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统计量
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平均值（MEAN）、***大值（MAX）、***小值（MIN）、测试次数（NO）、标准偏差（S.DEV)
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存贮和统计
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15个测量值
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测量精度
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&plu***n;（2%H+1）μm（零点校准）
&plu***n;[(1～3)%H+1] μm（二点校准） |
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零点校准
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二点校准
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删除功能
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自动关机
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蜂鸣声提示
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测量方式
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欠压指示
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错误提示
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标准配置
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主机
F1探头 基体 校准片 说明书 包装箱 |
主机
N1探头 基体 校准片 说明书 包装箱 |
主机
F1(N1)探头 基体 校准片 说明书 包装箱 |
主机
打印机 F1(N1)探头 基体 校准片 说明书 包装箱 |
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选配件
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F1、F400、F10测头
N1、N400测头 |
通讯软件
F1、F400、F10测头 N1、N400测头 |
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