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特点：
XJZ 系列正置金相显微镜，采用平场消色差光学系统和落射式柯拉照明系统，同时在落射照明系列中设计防反结构，有效防止反射光干扰成像光线，从而使成像更清晰、视场衬度更好，提供稳定可靠的操作机构,使成像更清晰,操作更简便，广泛应用于各类半导体硅晶片检测、材料科学研究、地质矿物分析及精密工程等学科领域。显微镜镜体采用全新的人机工程学设计，结构匀称，实现镜体扩展积木化，工作台、光强与粗微调的低位操作，提高了使用的舒适性。
仪器配置
光学系统：平场消色差光学系统；
镜体：采用全新的人机工程学设计，“C”型基座设计保证了高度的稳定性与刚性；
物镜：4X、10X、40XS 195金相平场消色差物镜；
目镜：PL10X高眼点平场目镜，线视场 18mm；
工作台：移动机械平台上，附设180X145mm平板平台；
调焦机构：粗微调同轴，带粗调上限位和松紧调节装置；
照明系统：落射照明系统，90-240V宽电压；光源采用Philips5761型6V/30W卤素灯；
选购件：摄像、摄影、偏光装置；
镜筒：铰链式双目观察头，镜筒30°倾斜；铰链式三目观察头，镜筒30°倾斜；单目观察筒，镜筒45°倾斜。
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