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设备名称: |
二坐标测量机 |
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设备型号: |
sp2010ct(全新) |
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产地: |
AEH |
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年代: |
新 |
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技术状况: |
新 |
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数量: |
大量 |
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售价: |
议 |
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测量范围(mm)X: |
200 |
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测量范围(mm)Y: |
100 |
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测量范围(mm)Z: |
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探测系统: |
英国RENISHAW系统 |
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分辨率: |
0.5μm |
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示值误差(μm): |
1.0+L/100 |
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探测误差(μm): |
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技术特点：: |
稳定的花岗岩底座及立柱，紧凑的十字工作台，精密光栅测量系统，高品质的光学显微镜及CCD图像传感器，可编程控制的光学照明系统，配之以功能强大的影像测量及数据处理软件，使该仪器具有外形尺寸小，整机重量轻，机械系统稳定，安装调试简单，功能强大，操作使用方便，应用领域广泛的优点。 |