|
设备名称: |
二坐标测量机 |
|
设备型号: |
sph2010(全新) |
|
产地: |
AEH |
|
年代: |
新 |
|
技术状况: |
新 |
|
数量: |
大量 |
|
售价: |
议 |
|
测量范围(mm)X: |
200 |
|
测量范围(mm)Y: |
100 |
|
测量范围(mm)Z: |
|
|
探测系统: |
英国RENISHAW系统 |
|
分辨率: |
0.5μm |
|
示值误差(μm): |
1.5+L/100 |
|
探测误差(μm): |
|
|
技术特点：: |
1.花岗岩基座及立柱为主机的机械系统提供了超高的稳 定性 |
|
|
2.先进的精密光栅测量系统结合计算机辅助误差修正软 件保证仪器的高精度 |
|
|
3.计算机可编程控制光学照明系统 |
|
|
4.先进的图像处理及多样化的自动寻边采点功能取代 了目视瞄准手工技术的传统测量方式，极大的提 高了工作效率并从根本上消除了人为误差 |
|
|
5.图形化的中文操作界面更易于操作者学习掌握 |
|
|
6.编程及自学习编程功能令同一工件（或同类工件）的批 量（或重复）测量更为轻松。 |
|
|
7.功能强大的通用测量软件可与多种专用软件（包括统计 与质量控制、曲线、齿轮、螺纹等）配合使用以解决普 通的测量问题和各种特殊的测量解决问题。 |