UM-2超声波测厚仪是一款高精度测厚仪,测量精度高达&plu***n;0.05mm,可以测量钢铁,塑料,玻璃,陶瓷等超声波的良导体。
UM-2超声波测厚仪特点:
根据超声波脉冲反射原理来进行厚度测量的,当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头,通过***测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。UM-2分辨力0.01,超声波测厚仪具有***小厚度值***模式:可选择显示当前厚度值或***小厚度值;数据存储;报警功能
技术参数:
工作原理
脉冲~回波方式
测量范围
0.8~300mm
取决于所用探头、所测材料、表面状况
单位和显示分辨率
毫米-0.01,
英寸
探头零点校准
一点校准(用于常规的厚度测量)
两点校准(测量曲面壁厚或特殊应用时,可显著提高测量精度)
V路径修正
自动V声程修正,补偿双晶探头的非线性度
示值误差
&plu***n;
&plu***n;0.5% H+0.01 (
注:H为被测物厚度
重复性
&plu***n;
显示屏
128×64点阵液晶屏(42×
具有EL背光,可调节对比度
厚度值数字高度可达
测量刷新频率
常规测量时4Hz,***小值扫查时25Hz
材料声速范围
1000~9999m/s,0.0394~0
数据存储
划分5个数组,可存储500个厚度值
工作语言
中文、英文
电源
两节1.5VAA电池
当电池电量不足时,有低电压提示
操作时间
两节5号电池,使用时间可达200小时
自动关机
5分钟无操作后自动关机
工作温度
-10℃~+
尺寸
重量
含电池
标准配置
UM系列测厚仪
标配探头
仪器箱
两节碱性电池
耦合剂
操作手册
合格证
装箱单
选配件
橡胶外套;众多可供选择的探头;校准用阶梯试块;耦合剂及高温耦合剂
当使用高温环境时,必须使用高温耦合剂。