QNIX4200铁基膜厚仪，QNIX4200覆层测厚仪是德国QNIX公司推出的一款一体式铁基膜厚仪。体积小巧，携带方便。可以测量铁基上0－3000μm的涂层厚度。无需校准。
QNIX4200铁基膜厚仪，QNIX4200覆层测厚仪
基体 ：Fe
探头形式 ：一体
LCD数字显示
测量范围 ：0－3000μm
显示精度 ：1μm
工作温度 ：－10 － ＋60℃
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QuaNix技术参数
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型 号
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4200
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4500
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1200
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1500
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7500
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keyless
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基 体
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Fe
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Fe/NFe
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Fe
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Fe/NFe
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Fe、NFe、Fe/NFe
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Fe/NFe
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探头形式
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一体
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一体、分体
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无线分体
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显 示
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LCD数字显示
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测量范围
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0－3000μm
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Fe:0-3000μm
NFe：0－2000μm
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0－2000μm
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0－5000μm
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0－2000μm
0－5000μm
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0－5000μm
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测量精度
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0－50μm：≤&plu***n;1μm，50－1000μm：≤&plu***n;1.5%，1000－2000μm：≤&plu***n;2%，
2000－5000μm≤&plu***n;3%
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显示精度
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1μm
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0－999μm：0.1μm，1000μm以上，0.01mm
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工作温度
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－10 － ＋60℃
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温度补偿
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0－50℃
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存 储
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－
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1500M型
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7500M型
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keyles***型
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3900个测量值，999个数据组
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数据传输
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－
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RS232打印、电脑
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统计功能
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－
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平均值、***大值、***小值、标准偏差
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超限报警
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－
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上下限
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***小基体
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10mm×10mm
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***小曲率
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凸、凹半径：3mm/25mm
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凸半径：5mm，凹半径：25mm
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***薄基体
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Fe：0.2mm，NFe：0.05mm
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电 源
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5号电池2节
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9V碱性电池1节
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5号电池2节
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重 量
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110g
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130g
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150g
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130g
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尺 寸
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110×60×27mm
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166×64×34mm
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110×60×24mm
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110×62×22mm
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