DAGE成立于 1961 年，是半导体和 PCBA 制造等其选定市场的***企业。 公司拥有屡获殊荣的焊接强度测试仪和 X 射线检测系统产品组合，适用于对电子组件进行***性和非***性机械测试和检测。
DAGE于2006 年被 No***on Corporation 收购。集团总部位于英国伦敦以北大约 60 公里的艾尔斯伯里，交***利。
No***on DAGE 开发的屡获殊荣的 X 射线检测设备套件具有出色的性能，专门针对半导体和 PCBA 市场。通过控制拥有专利的 X 射线管制造核心技术，确保高分辨率 X 射线可以检测、识别和测量甚至于***小的特征。 No***on DAGE ***的高精度检测设备与复杂的软件产品相结合，确保设备易于使用。
XD7500VR Jade FP
新系统通过经济***的平台提供高科技
优势：
- No***on DAGE开放、透射式***管
- 特征分辨率<0.95μm
- 在***高160KV管电压，
- 3W标靶功率时仍可达到次微米级特征分辨率。
- 使用No***on DAGE 133万像素，
- 10帧/秒的CMOS 平板探测器，
- 可实现实时模式影像增强功能，且使用寿命长。
- 1400倍几何放大倍率，4200倍系统放大倍率
- ***大样品尺寸：29”x 22.8”(736 x 580 mm)
- 保持放大倍率不变的情况下***大可达到65度倾斜角
- 23”TFT LCD 显示器
- 自动检测功能不需具备任何编程技巧
- 高清晰实时影像
- 微CT选项
参数：
• No***on DAGE VR950新技术、开放、透射式***管:
–所有电压均可达到<0.95微米特征分辨率
–***高电压160KV，标靶功率：3W
–灯丝组件使用寿命长
–自动稳压光管
• 1,400 倍光学放大倍率 (4,200 倍系统放大倍率)
• 简单，无碰撞，高放大倍率，高解析度检测系统：
–在倾斜角度下检测同样具备上述特点
–无摇杆，鼠标点击操作
• ***大样品检测尺寸：29”x 22.8”(736 x 580 毫米)，放大倍率
• ***大检尺寸：20”x 17.5”(508 x 444 毫米)
• 达65度倾斜角检测
–测试点360度环绕旋转检测
–等中心操作平台结构保证了可视范围内的影像分辨率。
• 使用寿命长的133万像素(1536*864像素比)CMOS数字探测器
–10帧/秒的全息”实时”影像成像系统
–实时影像增强功能
• 16位数字影像处理系统
• 防震动控制处理
• 23”TFT LCD操作显示器
• No***on DAGE X射线影像操作软件包含如下功能:
–自动或手动进行元器件失效分析，包括BGA和QFN
–简单快捷制作稳定的自动检测程序
–贯穿孔填充百分比计算
–***的测量功能
–可自动或手动测量芯片内气泡比例
–专利的X影像导航图，方便***缺陷位置
–使用简单，无需复杂的摇杆操作
• 外壳全封闭式铅屏蔽安全系统
–X射线辐射泄漏量<1μSv/hr
–符合所有的国际标准
• Windows 7 64位操作系统
• 整机1年保修
No***on DAGE 是业界***将研究***放在 X 射线电子检测的 X 射线产品公司，提供的 No***on DAGE XD7500VR Jade FP X 射线检测系统采用***新技术平板检测器，在生产任务需要高质量实时成像的情况下提供市场***的、经济***的方法。 借助其强大的规格，该基础平台可以轻松提高竞争优势。
No***on DAGE 开放传送型 X 射线管以及其长寿灯丝技术和高质量 1.33 Mpixel CMOS 平板检测器，令此出色的系统成为电子检测所需高倍放大和高分辨率实时成像的***经济***选择。 采用垂直系统配置，X 射线管放在检测器的等中心“移动和倾斜”之下，通过简单的、无需操纵杆的“点击式”软件
即可实现控制。 这可提供生产应用所需的安全、无碰撞检测。 所有这些任务都可以简单快速地自动执行，而无需编程技能。
