1、仪器主要功能产品特点：
- 采用热释电探头，适用多波段测量，光谱测量范围宽；
- 响应时间短，热稳定性好；
- 体积小，安装固定方便；
- 操作简单，数字显示；
- 适用于各种情况的光功率测量。
主要参数：
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适用范围Applicability |
CW/Pulse laser |
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光谱测量范围Spectrum resp***e range |
200nm ~ 11000nm |
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量程Measurement range |
0~ 2W |
0~10W |
0~50W |
0~100w |
0~200w |
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探头有效口径Sensitive area of detector |
Φ10~30mm |
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可承受能量密度Max permitted power density |
200MW/cm2 |
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测量误差Measurement error |
<&plu***n;5% |
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显示位数Display precision |
4 and 1/2 bits |
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工作电压Input voltage |
AC 80~260V 50Hz |
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消耗功率Power c***umption |
<10W |
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保修期Warranty Time |
1 year |
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FLBQ激光光束质量分析系统能够测量激光光束的二维和三维分布（长短轴大小、光强的空间分布），配合精密刻度导轨能计算出激光光束的1/2发散角和1/e2发散角。不仅适用于小发散角（如固体、气体激光器等）的测量而且适用于大发散角的半导体激光器。
(1)图象获取功能
实时采集：可随时监测光束强度(功率、能量)的二维分布、给出三维分布图及通过光束内任一点的沿X-Y方向的光强分布曲线，并显示直径等参数。
图象“***”：可根据需要捕获典型的光束图象，作为TIFF文件存贮，供分析处理。
连续及脉冲图象的“抓取”：具有“软触发”功能，其软触发阈值可以调节。它不需要触发电脉冲，增加了使用的方便性和安全性，特别是对于Q开关脉冲激光器的场合，由于不需要电脑与激光器之间的电信号相接，减小了硬件损坏及相互干扰的可能性。
(2)分析测量功能
二维光束截面功率、能量分布；
光束截面功率、能量的三维图(任意方位角，俯仰角)；
通过光束截面内任一点沿X，Y方向的光强分布；
不同定义下的光束直径及与高斯分布的符合程度；
(3)其它功能
自动反差调整功能
快速连续取、放多幅图象
打印功能——将屏幕上显示的内容或被选取的部分“所见即所得”地打印出(可与激光、喷墨等多种型号打印机适配)。
2、主要技术指标
- 测试波长范围：（可选）；
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波长测量范围(nm) |
发散角测量精度 |
激光***大功率（W） |
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LBQ-400-1100 |
400-1100 |
<5% |
100W |
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LBQ-190-1310 |
190-1310 |
<5% |
100W |
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LBQ-1440-1605 |
1440-1625 |
<5% |
100W |
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LBQ-900-1700 |
900-1700 |
<5% |
100W |
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LBQ-400-2200 |
400-2200 |
<5% |
100W |
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b) 测试激光功率范围：0.01mW~100W (CW)；
c) ***大测量光斑直径: 60mm；
d) 测量暗箱采用吸光材料，以消除杂光干扰；
e) 光学元件置于光学精密调节架上，以保证其平稳调节；
f) 光学暗箱外形尺寸:624mm×360mm×160mm。
3、主要配置
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部件名称 |
数量 |
型号或功能描述 |
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计算机主机 |
1 |
采用pc机，内置显卡、声卡、预装WinXP操作系统 |
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显示器 |
1 |
19英寸液晶显示器 |
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CCD1 |
1 |
适合于400-1100nm测试 |
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CCD2 |
1 |
可选。 |
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图像采集卡 |
1 |
数据采集。 |
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精密测试道轨 |
2 |
用于器件固定与移动 |
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***中性滤光片 |
3 |
用于衰减大功率激光（三片，拧到CCD上直接使用）。 |
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附加滤光片（整套） |
1 |
补充衰减 |
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镜头 |
1 |
CCD专用（需配合投射屏使用） |
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导轨与支架（整套） |
1 |
用手移动光学器件，测试距离。固定光学器件等 |
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红外感光卡片 |
1 |
用于调试光路 |