碳化硅检测

联系人：尤先生  联系电话：0574-83006985手机：13362838102  QQ：2529146230

本公司采用先进仪器GD/MS  AES等，可以检测73种元素，精确范围可以到十亿分之一，纯度可以检测到8个9 纯度。

检测要求：2*2*20mm或者直径为2cm的圆，厚度大于50微米。可以退样，只会破坏厚度为50微米的厚度！欢迎来电咨询

高纯金属GDMS检测，高纯金属检测，国家有色金属及电子材料分析测试中心引进了美国Thermo  Fisher公司最新型号的Element  GD辉光放电质谱仪(GDMS)，适用于金属中ppb级及其以上含量的杂质分析，可以检测5N、6N高纯铝、铜、锌、镍、钴、多晶硅中的痕量和超痕量杂质元素。
      样品要求：
1．    厚度5~15mm，最厚不要超过40mm；
2．    直径最大不超过40mm，最小不小于16mm；
3．    表面要求：车床车出来的就可以，表面粗糙度不大于3.2。当然，越光滑越好
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本公司采用先进仪器GD/MS AES等，可以检测73种元素，精确范围可以到十亿分之一，纯度可以检测到8个9 纯度。 检测要求：2*2*20mm或者直径为2cm的圆，厚度大于50微米。可以退样，只会破坏厚度为50微米的厚度！欢迎来电咨询