巴氏合金成分分析
所用仪器：X荧光光谱仪。
基本原理：利用初级X 射线光子或其他微观离子激发待测物质中的原子，使之产生荧光(次级X 射线)而进行物质成分分析和化学态研究的方法。按激发、色散和探测方法的不同，分为X射线光谱法(波长色散)和X 射线谱法(能量色散)。当原子受到X 射线光子(原级X 射线)或其他微观粒子的激发使原子内层电子电离而出现空位，原子内层电子重新配位，较外层电子跃迁到内层电子空位，并同时***出次级X 射线光子，此即X 射线荧光。较外层电子跃迁到内层电子空位所释放的能量等于两电子能级的能量差，因此，X射线荧光的波长对不同元素是特征的。
Component analysis
The instrument used: X-ray fluorescence spectrometer.
The basic principle: the use of the primary X-ray phot***, or other micro-ion excite the atoms in the substance to be measured, to produce fluorescence (secondary X-ray) for material composition analysis and chemical state of the method. Press excitation dispersion and different detection method is divided into X-ray spectroscopy (w***elength dispersive) and X-ray spectroscopy (energy dispersive). When the atomic excitation by X-ray phot*** (formerly X-rays) or other microscopic particles appear atomic inner-shell electron ionization vacancy atomic inner-shell electron re-ligand, the outer electron transition to the inner electron vacancy, and at the same time radiation the secondary X-ray phot***, namely X-ray fluorescence. The energy difference between the outer electron transiti*** into the inner electron vacancy, the energy released is equal to the two-electron energy level, therefore, the w***elength of the X-ray fluorescence of different elements are characterized.
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