品牌: 泰克TeK TDS540示波器产品指标: 500MHz带宽 产品信息: 示波器 TDS540 •500MHz带宽 •***高1GS/s采样率 •四通道 •时间间隔、2ns毛刺、脉冲幅度异常,逻辑图及状态触发 •1mV/格至10V/格灵敏度 •无限余辉和可变余辉显示 •记录长度每通道50,000点 •8-bit垂直分辨率,高分辨率方式时可提高至15bit •1%垂直精度 •可选FFT,微分及积分 •25种参数自动测量 •高分辨率彩色显示 •3.5”DOS兼容磁盘信号采集系统通道数:四个数字化仪:四个带度:500MHz 灵敏度:1mV至/10V格移位范围:&plu***n;5格偏置&plu***n;1V.1~99.5mV/格; &plu***n;10V,100mV~995mV/格; &plu***n;100V, 1~10V/格***高采样器:1GS/s 垂直系统直流增益精度:&plu***n;1.0% 垂直分辨率:8-bit(将10.24个垂直格分成256级)模拟带宽选择:20MHz,100MHz或全带宽输入耦合:交流,直流或接地输入阻抗:1MΩ/10pF或50Ω(交流或直流耦合)***大输入电压:&plu***n;400V(直流+交流峰值)、频率高于1MHz时, 以20dB/倍频程下降。1MΩ输入阻抗或接地耦合。通道间隔离:≥100MHz时,>100:1; >30:1两通道之间有着相同 的电压偏转系数 AC耦合时低频限制:≤10Hz,AC/1MΩ耦合时; ≤200KHz, AC/50Ω耦合时;时基系统时基:主时基,延迟时基扫描速度:500ps至10s/格时基精度:间隔大于等于1ms时为0.0025% 记录长度:500至15000点(50000点选件1M)预触发位置:记录0~100%间采集方式峰值检测:***高频和随机毛刺,在所有实时取样方式下,***大于等于4ns的毛刺。取样:只取样数据包络:单次或多次采集到的***大/***小值平均:可选择2次至10000次平均高分辨率:提高采集低频信号的垂直分辨率和和减小噪声,例如50μs/格或更慢时达12-bit 触发系统触发器:主触发,延迟触发主触发方式:自动,常态,单次延迟触发:时间延迟,事件延迟或时间和事件延迟时间延迟范围:16ns至250s(扫描时间≤10μs) 15.1ns至250s(扫描时间≥25μs)事件延迟范围:1至9,999,999个事件外触发输入口:>1.5KΩ;***大直流加交流峰值输入电压为&plu***n;20V。显示波形类型:点阵或矢量,无限余辉或可变余辉,余辉时间为250ms至10s 灰度:16级亮度分级(可变余辉时)提供有关快变信号的‘Z 轴’信息更新率:无限余辉时,若每波形为500点,则每秒钟更新200次 CRT类型:7寸,磁偏转,水平光栅扫描,P4白色磷粉分辨率:640×480 ZOOM(缩放) ZOOM特性可将波形放大,压缩和进行水平,垂直位移,在不影响正常波形采集的情况下进行波形的精密比较和细微研究,与高分辨率或平均方式一起使用时,有效的垂直动态范围为100格。阈值:可以百分数或电压值设定门限:用垂直双线可将记录的任意部分隔离出来用于测量快照:一次过完成单波形的25种参数测量,并即刻将结果显示出来。游标测量:***值,相对值,电压,时间和频率游标类型:水平双线(电压);垂直双线(时间);可***使用或在跟踪方式下使用。波形处理波形函数:任选(Sinx/x或线性内插法,平均或包络***的波形函数(选件):FFT、微分、积分算术运算:加、减、乘、反相自动设置:单键完成,根据选定信号自动设置垂直、水平和触发系统自动极限测试:将输入波形与参考波形的上、下限比较计算机接口 GPIB(IEEE-488.2)可程控能力:全听/讲功能:所有模式、状态和测量均可控制。存贮波形:4个5000点之记录,总共50000点。状态:十个前面板状态物理特性尺寸:236mm(高)×445mm(宽) ×432mm长重量:12.3公斤订货信息 TDS540数字示波器标准附件包括:四根P6139A 10X无源探头,说明书一本,电源线一根