博曼（BOWMAN）膜厚测试仪是一款可靠的采用X-射线荧光方法和独特的微聚焦X-射线光学方法来测量和分析微观结构镀层的测量系统。
它的出现解决了分析和测量日趋小型化的电子部件，包括线路板，芯片和连接器等带来的挑战。这种创新技术的，目前正在申请专利的X-射线光学可以使得在很小的测量面积上产生很大的辐射强度，这就可以在小到几?reg;微米的结构上进行测量。在经济上远远优于多元毛细透镜的BOWMAN专有X-射线光学设计使得能够在非常精细的结构上进行厚度测量和成分分析。可以胜任测量传统的镀层厚度测量仪器由于X-射线荧光强度不够而无法测量到的结构。具有强大功能的X-射线带WinFTM? V6 软件可以分析包含在金属镀层或合金镀层中多达24种***元素的多镀层的厚度和成分。有需要的有友请来电咨询希望我们能成为长期的合作伙伴
博曼电镀（膜厚测试仪）膜厚仪，可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层,合金镀层.可分析镀液的主成份浓度(如镀镍***的镍离子浓度,镀铜***的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液.博曼电镀（膜厚测试仪）膜厚仪，可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度。
可通过CCD摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量，避免直接接触或***被测物。博曼电镀（膜厚测试仪）膜厚仪应用于钟表.五金,电镀,端子.连接器.金属等多个领域.让客户满意是我们金东霖科技始终的目标.