深圳金霖菲产品包括涂镀层厚度测量（单镀层、多镀层测试，无损测量，***性测试,线路板表面铜箔测厚,孔内铜测厚），以及材料测试和硬度测试（铁素体含量测试，电导率测试，马氏硬度测试，空隙率测试和铝阳极氧化层质量的测试）。采取各种不同原理进行测试，比如电磁感应原理、涡电流原理，相位感应原理，电解法，B射线，X射线等等。
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膜厚测试仪性能，可测量任一测量点，***小可达0.025 x 0.051毫米。能够测量包含原子序号13至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体,极薄的浸液镀层（银、金、钯、锡等）和其它薄镀层。区别材料并定性或定量测量合金材料的成份百分含量可同时测定***多5层、15 种元素。 ***度***于世界，***到0.025um (相对与标准片)
数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求 ；如在分析报告中插入数据图表、测***置的图象、CAD文件等。 统计功能提供数据平均值、误差分析、***大值、***小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。 X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状各种尺寸的样品；
膜厚仪操作 WINWIF系统、WIN系统及FIM系统，其***适合用于微电子器件、数据偶合器、光通讯和数据贮存、半导体、光通讯、微电子、光子学、无源器件和薄层磁头金属化分析等。
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