膜厚测试仪

膜厚测试仪x射线膜厚仪是通过***x射线穿透被测物体时的强度衰减量来测量物体厚度。x射线膜厚仪的优点是仪器在断电后就不会在释放任何射线，减少了对***和周围环境的危害，从而是一种安全的膜厚仪，因此，各大工程中特别是在有色金属板材生产加工中被广泛的应用。但是，由于x射线测厚仪的射线强度、以及被测物的材质、温度、倾斜角度等都会影响到x射线膜厚仪测量的***度，所以我们应该注意影响x射线膜厚仪测量精度的因素并注重对其进行日常的维护。
膜厚测试仪硬件配置（均为美国标准配）：
*  射 线 管：微聚焦型W靶鈹窗X射线管功率50W
*  激发电源：仪器可调节式高压电源30-40-50KV高压激发电源
*  检 测 器：数字半导体***
*  滤 波 器：镍（Ni）滤波;铝（AI）滤波；和空气滤波三种
*  准 直 器：4个（自动司服转化功能）
   圆 形4个: 0.1φ, 0.2φmm,0.3φmm，1.5φmm
*  摄像系统：彩色CCD摄像系统。
*  整体外观尺寸：长*宽450*450mm 整体重量：32KG
   样品的测量台：XY轴可移动样品台
   样品室，室内尺寸：长*宽*高=360*380*240
*  搭载自动制作生成图文测量检验报告书
*  戴尔E390商务电脑及19寸液晶显示器（戴尔原装电脑具体配置随机性）
   智能英特尔  奔腾  G630处理器；OptiPLex(TM) 390MT机箱
   1GB（1x1GB）Non-ECC DDR3 1333MHZ SDRAM Memory
   500GB 7200 RPM 3.5 SATA Hard Drive，DeLL IN1930 19英寸显示器
*  工具配置箱一件，样品环二个，样品膜一卷（可使用数年）
联系人: 舒翠
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