膜厚分析仪_bowman

膜厚分析仪_bowmanx射线膜厚仪是通过***x射线穿透被测物体时的强度衰减量来测量物体厚度。x射线膜厚仪的优点是仪器在断电后就不会在释放任何射线，减少了对***和周围环境的危害，从而是一种安全的膜厚仪，因此，各大工程中特别是在有色金属板材生产加工中被广泛的应用。但是，由于x射线测厚仪的射线强度、以及被测物的材质、温度、倾斜角度等都会影响到x射线膜厚仪测量的***度，所以我们应该注意影响x射线膜厚仪测量精度的因素并注重对其进行日常的维护。
膜厚分析仪_bowman软体说明：
*  电脑操作系统 XP系统
*  测量膜厚元素范围：元素周期表13—92号元素间的所有镀层，
   使用FP法充许各元素镀层次序的自由组合测量层层次，***多可以测量四层（加基材***多五层）
*  仪器支持二种镀层厚度计算方法
  （1）、无标准片的FP法（Fundamental Parameter）全新数学计算方法。
     FP法名词解释：即在没有标准块的前提下，一样能***测量，此方式是通过仪器直接读取镀层元能量信息，通过各无素能量信号的强弱或设定的各无素比例参数，以一种数学的方式直接计算镀的厚度。因为它不需要标准块，因此它不受标准块的限制，在没有各种合金镀层标准块的情况下样***的测量各种二元、三元合金镀层）到目前为止，bowman是世界上***可实现此种新型测试技术的膜厚测量品牌，此技术已使用了17年。
  （2）、支持传统的带标准块的检量线法，即通过镀层标准块建立测试程式档案测量相对应的镀层厚度。
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