降低标准具效应、象元温度恒温控制
S11850-1106/11851-1106是适用于分光光度测量的背照式CCD。有两种类型可选择，一种是低噪声类型(S11850-1106)，一种是高速型 (S11851-1106)，它们都降低了标准具效应。从紫外到近红外波段，它们具有几乎平滑的光谱响应特性，还有着高量子效率。封装内部有热电制冷器，可以保持象元温度在工作时恒定（约5摄氏度）。
特性
- 降低标准具效应
- 平滑的响应曲线
- 一级温度控制
- CCD结灵敏度高：6.5 μV/e-
- 高满井容量，宽动态范围（带抗溢流功能）
详细参数
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类型 |
低标准具效应型 |
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感光面积 |
28.672 x 0.896 mm |
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像素尺寸 |
14 x 14 μm |
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像素间距 |
14 μm |
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有效像素个数 |
2048 x 64 pixels |
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封装 |
金属 |
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帧速率（典型值） |
106 frames/s |
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光谱响应范围 |
200 to 1100 nm |
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饱和电荷量（垂直） |
60 ke- |
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暗电流（典型值） |
50 e-/pixel/s |
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读出噪声（典型值） |
6 e- rms |
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测试条件 |
Ta=25 ℃，除非注明，均为典型值。帧速率: 满线合并（full line binning），暗电流: MPP 模式 |