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瑞典XCounter双能光子计数X射线探测器PDT25-DE
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产品描述：PDT25-DE
紧凑型、直接数字转换、双能采集、光子计数X射线探测器，用于数字X射线成像系统，基于新型强大的CdTe-CMOS传感器平台研发而成，PDT25-DE是一个小视场探测器，适用于潜在宽泛的能量范围。
PDT25-DE可以基于帧率成像，也可以采用时间延迟总和（TDS）模式。
引进反符合技术的双能采集功能，是PDT25-DE***之处，在双能采集过程中，通过两个***的阈值将探测到的光子能量加以比较，并分别读出，双能设置可用作材料分析，这为新的***和工业X射线成像技术开启了大门。反符合技术的运用，确保将每一个光子信号分布在适当的像素点上，从而获得更高的能量分辨率。
集成
通过高速率USB接口将PDT25-DE连接到计算机上，自带灵活的软件开发包，可控制所有PDT25-DE的功能；可用在Windows XP、Vista 、Windows7和Windows8系统平台上。
应用
*小范围辐照
*小动物成像
*实验室样品和标本成像
*反向散射成像
*工业检测（NDT）
特点和优势
*CdTe-CMOS传感器，高品质成像
*双能采集，具有材料区分能力
*反符合技术，***的能量分辨率
*可基于帧率成像，也可以选择时间延迟总和（TDS）模式
*兼容Windows操作系统，从XP到Windows8
*配有功能强大的系统软件
技术参数
物理参数
尺寸 （L×W×H）：94×54×20mm
重量：150g（235g 带钨防护）
温度控制：Internal Peltier温度控制
环境温度：+15 - +45℃
储藏温度：-10 - +50℃ @ 10% -95% 湿度
***大消耗功率：10W
射线窗：碳纤维， 厚250μm
射线屏蔽：根据应用
传感器
传感器类型：双能光子计数 CdTe-CMOS
传感器厚度：0.75mm-2.0mm CdTe
有效面积：25.6×25.6 mm2
像素：100μm
像素填充率：100%
性能
帧率：***高35fps
动态范围：12 bits
***时间：100μs-5s （通过软件，可以设置更长时间）
DQE（0）：85%@RQA5 spectra
MTF：＞80% @ 2lp/mm
＞45% @ 5lp/mm
管KV范围：15-140 kVp
内部测试模式：伪随机调试模式
外部触发输出：3.3 V TTL
输入：3-15V
滞后：0%
拖影：＜0.1% X射线开启后1分钟（12μGy）
分辨率和DQE曲线 （反符合开CC on和闭CC off）
