Agilent4291A、Agilent4291B 、HP4291B阻抗分析仪
主要技术指标
4个元件测试夹具（被测件尺寸：0.5 mm至20 mm）
***选择2个通道的参数
直接读取介电常数、导磁率（选件）
2个材料夹具（工作温度：-55至+200摄氏度）
***（温度、科尔-科尔图表、松弛时间）
扫描参数（频率、交流电平、直流偏置、温度）
宣传资料 2006-07-13 | PDF 697 KB | 订购拷贝件
描述
Agilent 4291B射频阻抗/材料分析仪是针对表面封装元器件和介电/磁性材料的高精度测量的完整解决方案。与反射测量技术不同，Agilent 4291B使用直接的电流－电压测量技术，可在广泛的阻抗范围内提供更***的阻抗测量结果。
基本阻抗精度是+/- 0.8%。高Q精度有利于进行低损耗元器件分析。内置合成器扫频范围从1 MHz到1.8 GHz，具有1 MHz的分辨率。1.8米长的精密电缆可将分析仪连接到测试站，以便您将测试点延伸到分析仪之外，而不会影响测量精度。***的矩阵和错误补偿功能消除了夹具的测量错误，确保DUT/MUT的高精度和可重复性。
Agilent 4291B还提供自动电平精度控制和用IBASIC程序功能监视测试信号；可在恒压或恒流下测量器件。用可选的直流偏置(达40V和100mA)使测量偏置***于阻抗特性。只要按一个按钮，内装的等效电路分析功能就自动计算5种电路模型的电路常数值。
Agilent 4291B有2个测量通道；每一个通道都可设置为测量1个(即Z)或2个(即Z-theta)阻抗参数。具有分割显示的彩色TFT可显示有效示踪和存储器示踪(保存在RAM中)。内部软盘驱动器以LIF或MS-DOS格式保存程序和测试数据。有了内装IBASIC，您就能从Agilent 4291B直接控制恒温箱或园片探测器这类外部测试设备，而不需要单独的仪器控制器。
材料评估
Agilent 4291B能容易地进行***的材料评估，提高材料评估的质量和效率。Agilent 4291B提供宽频率范围(1MHz至1GHz)介电/磁性材料测量的总体解决方案。
Basic accuracy of 0.8%
*Internal generator sweeps from 1 MHz to 1.8 GHz with 1 mHz resolution
*Gain-Phase measurements include amplitude, phase, and group delay
*Impedance measurements include |Z|, |Y|, phase, R, X, G, B, Lp, Ls, Cp, Cs, D, Q, deviation, and deviation %
*DC bias to &plu***n;35 V
*GPIB
Basic impedance accuracy is +/- 0.8%. High Q accuracy enables low-loss component analysis. An internal synthesizer sweeps frequency from 1 MHz to 1.8 GHz with 1 mHz resolution. A 1.8-m error-less cable connects the analyzer to a test station so you can extend your test point away from the analyzer without losing accuracy. Advanced calibration and error compensation function eliminate measurement error factors in fixtures and assure high accuracy and repeatability at DUT/MUT.
*Four component test fixtures (DUT size: 0.5 mm to 20 mm)
*Independent parameter selection in 2 channels
*Direct read-out permittivity, permeability (option)
*Two material fixtures (operating temperature: -55deg C to +200deg C)
*Versatile analysis (temperature, cole-cole plot, relaxation time)
*Sweep parameters (frequency, ac level, dc bias, temperature)
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