ischer电镀膜厚仪的显著特征:
☆ 单、双及三层镀层系统 ☆ 双元及三元合金镀层的分析和厚度测量 ☆ 双层镀层，其中合金镀层在外层或在中间层的厚度测量和分析（两层的厚度和合金成分都能被测量） ☆ 能分析多达四种金属成分的合金；电镀液中金属离子含量 ☆ 可编程的应用项图标，用于快速应用项选择 ☆ 完整的统计功能，SPC图，标准的概率图和矩形图评估 ☆ 报告生成，数据输出 ☆ 语言可选择：英语，德语，法语，意大利语，西班牙语，及中文 ☆菜单中的某些选择项可***使用 注：基础WinFTM软件版本不允许创建新的应用，所要求的应用不得不在定货时明确。当校准标准块与仪器一起定购时，可在交货前预先创建应用。若没有定购校准标准块，则只可使用已预装的*无需标准块的测量应用。 ☆ 可选择的Super WinFTM软件（订货号602-950）提供了以下的附加功能： ☆ 可随意创建测量应用 ☆ 可把每种测量模式的测量范围设定为想要的理论上的测量精度 ☆ 快速的频谱分析以决定合金成分
本公司***维修膜厚仪***管更换 还可为客户测试对比样品 出售/回收二手FISCHER膜厚仪等等锦霖公司联系人：谢生 186 8233 5195 地址：宝安区沙井新桥洋下大道8号凯悦大厦1704
FISCHER（菲希尔）***维修膜厚仪X-RAY XUL XDL
使用设备FISCHERSCOPE? X-RAY XUL? 和 XDL? 确定电镀液的金属离子浓度使用 FMP 系列设备对电镀层进行测量使用 FISCHERSCOPE? HM2000 确定在微米范围内的涂层显微硬度使用 PICODENTOR? HM500 确定在纳米范围内的涂层显微硬度使用 PHASCOPE? PMP10 测量小部件的涂层厚度，例如螺栓、螺母和销钉，测量时不受测量件几何形状和表面粗糙度的影响。使用 FISCHERSCOPE? MMS? PC2 在自动化生产流程中测量不同涂层系统的涂层厚度使用 COULOSCOPE? CMS 可以对任意基底上的几乎所有金属层进行厚度测量使用 FISCHERSCOPE? X-RAY XDV?-SDD 确定在纳米范围内的电镀涂层厚度，例如电气设备中的 Au/Pd/基底，或是确定 NiP 涂层中的磷含量使用 FISCHERSCOPE? X-RAY 4000 在生产流程中测量冲压件和电镀件上的涂层厚度使用 FISCHERSCOPE? X-RAY XDV?-μ测量小于 100 μm 的结构和特别小的测量直接地电路板检测 FISCHER 是您确保电路板质量的***好合作伙伴。 为您提供***的产品范围，用于测量所有实践中接触到的涂层厚度并进行分析。 即使是复杂的多层和合金涂层系统，采用******技术设计的 Fischer 设备也可以简单、快速和***的进行测量和分析。本公司***维修膜厚仪***管更换 还可为客户测试对比样品 出售/回收二手FISCHER膜厚仪等等锦霖公司：联系人：谢生 186 8233 5195 地址：宝安区沙井新桥洋下大道8号凯悦大厦1704