系统概述 |
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ENJ2005-C是一款很具有代表性的新型半导体晶体管图示系统,IV曲线自动生成,也可根据实际需求设置功能测试,直接读取数显结果。系统生成的曲线都使用ATE系统逐点建立,保证了数据的准确可靠。系统典型的测试时间是6 to 20ms,通常上百个数据点曲线只需要几秒钟时间便可以展现出来,数据捕获的曲线可导入EXCEL等格式进一步分析研究, 通过USB或者RS232与电脑连接,通过友好的人机界面操作,即可完成测试。并实现结果以EXCEL和WORD的格式保存。提供过电保护功能,门极过电保护适配器提供了广泛的诊断测试。这些自我测试诊断被编成测试代码,以提供自我测试夹具,在任何时间都可以检测。 |
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应用领域 |
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领 域 |
***院所、 高校、半导体器件生产厂商、 数控系统、 电源、变频器、逆变器、变流器、数控、电焊机、白色家电、 新能源汽车、轨道机车检修 等 …… |
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使 用 |
测试分析 /器件选型 筛选检验/生产线自动批量测试等…… 。 |
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技术指标 |
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主极参数 |
控制极参数 |
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指标 |
标配 |
指标 |
标配 |
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①主极电压 |
1mV-2000V |
①控制极电压: |
100mV-20V |
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②电压分辨率: |
1mV |
②电压分辨率: |
1mV |
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③主极电流: |
0.1nA-100A |
③控制极电流: |
100nA-10A |
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④电流分辨率: |
0.1nA |
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⑤测试精度: |
0.2%+2LSB |
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⑥测试速度: |
0.5mS/参数 |
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