德国FISCHER（菲希尔）膜厚仪特色
菲希尔（FISCHER）膜厚仪是一款可靠的采用X-射线荧
光方法和独特的微聚焦X-射线光学方法来测量和分析微
观结构镀层的测量系统。 它的出现解决了分析和测量
日趋小型化的电子部件，包括线路板，芯片和连接器等
带来的挑战。这种创新技术的，目前正在申请专利的X-
射线光学可以使得在很小的测量面积上产生很大的辐射
强度，这就可以在小到几?reg;微米的结构上进行测量
。在经济上远远优于多元毛细透镜的Fischer专有X-射
线光学设计使得能够在非常精细的结构上进行厚度测量
和成分分析。XDVM-μ可以胜任测量传统的镀层厚度测
量仪器由于X-射线荧光强度不够而无法测量到的结构。
具有强大功能的X-射线XDVM-μ带WinFTM? V6 软件可以
分析包含在金属镀层或合金镀层中多达24种***元素的
多镀层的厚度和成分。有需要的有友请来电咨询希望我
们能成为长期的合作伙伴。联系人：谢生 186 8233 5195 地址：宝安区沙井新桥洋下大道8号凯悦大厦1704
深圳市天诚科学仪器有限公司
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