中诺新材分析测试设备——X射线衍射仪
Rigaku 靶材晶向比例分析系统（XRD）可直接用于检测直径在500mm以下的固体金属材料的内部织构。X射线是一种波长（0.06-20nm）很短的电磁波，当X 射线照射晶态结构时，将受到晶体点阵排列的不同原子或分子所衍射。当用波长为λ的单色X射线照射到两个晶面间距为d的晶面时会发生布拉格定律衍射，即2dsinθ=nλ（n为整数）θ称为衍射角（入射或衍射X射线与晶面间夹角）。应用X射线在晶体中的衍射现象。特征X射线作用于安装在测角仪上的晶体后产生衍射点，通过检测器记录衍射点的强度数据。通过计算机控制完成衍射的自动寻峰、测定晶胞参数、收集衍射强度数据，统计系统消光规律，高纯铝，确定空间群等。进而计算晶体结构。
中诺新材可提供的常规陶瓷靶材如下：
氧化铝靶 Al2O399.99%
氧化铪靶 HfO299.99%
氧化镁靶 MgO99.99%
氧化硅靶 SiO299.999%
氧化钽靶 Ta2O599.99%
氧化钛靶 TiO299.99%
氧化锌靶 ZnO99.99%
氟化镁靶 MgF99.99%
硫化锌靶 ZnS99.99%
氮化钛靶 TiN99.9%
氮化铝靶 AlN99.9%
氮化硼靶 BN99.9%
碳化硅靶 SiC99.9%
常备现货的靶材尺寸：
φ50.8mm φ60mm
φ80mm，
φ100mm φ101.6mm
其它尺寸圆靶、方靶可定制
陶瓷靶材质脆，受热不均易碎，推荐绑定铜背靶，以增强靶材导热性能，高纯铝靶材 溅射靶材，提供靶材利用率
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