非接触式三维光学静态变形测量系统主要由高性能单反相机、编码标志点、非编码标志点、标尺、计算机及检测分析软件等组成。可测量0.3m~30m范围的物体，采用近景摄影测量技术，在被测物体上放置编码点及非编码点，通过单反相机围绕被测物体拍摄多张被测物图像，计算被测物表面关键的三维坐标、三维位移数据。
变形测量功能：
参考模式：基准状态可任意设置，可以是一开始状态或者中间状态
对齐模式：支持ID转换、相对关系转换、手动转换等多种状态对齐模式
搜索深度：支持任意指定标志点搜索半径及搜索深度，提高标志点匹配稳定性
分析模式：支持多观察域分析，观察域自由选择
测量结果：包含X，Y，Z三维位移分量及总位移E
结果显示：位移测量结果在三维视图和图像中以射线和色谱形式绘制，真实表达三维点的变形与运动，显示效果可灵活设置
数模对比功能：
数模导入：支持stl，iges，step等多种数模文件格式
分析模式：支持多观察域分析，观察域自由选
检测结果：包含X，Y，Z三维偏差分量及总偏差E
结果显示：三维彩色矢量箭头直观显示偏差结果，显示效果可灵活设置
非接触式三维光学静态变形测量系统典型型号参数如下：
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型号 |
XTDP-I |
XTDP-II |
XTDP-DEF |
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相机像素 |
2400万 |
2400万 |
2400万 |
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测量范围 |
0.3-10m |
0.3-30m |
0.3-10m |
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测量精度 |
&plu***n;0.025/m |
&plu***n;0.015/m |
&plu***n;0.025/m |
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