Thick 800 X荧光光谱仪主要针对大件部件的镀层厚度和含量的无损、快速测定，它不同于EDX600B的下照式和封闭样品腔的设计，而是采用上照式，通过三维的移动和激光***，实现对尺寸范围较大部件进行镀层厚度和含量的点测量
应用领域：黄金、铂、银等***和各种首饰的含量检测；金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；***加工和首饰加工行业；***、首饰销售和检测机构；电镀行业。
技术指标：
元素分析范围：从K到U
一次性可同时分析多层镀层
分析厚度检测出限***高达0.01um
同时可分析多达5层以上镀层
相互***的基体效应校正模型，******厚度分析方法
多次测量重复性***高可达0.01um
长期工作稳定性小于0.1um（5um左右单镀层样品）
温度适应范围：15℃~30℃
输出电压220&plu***n;5V/50HZ（建议配置交流净化稳压电源）
配置
开放式样品腔
二维移动样品平台
探测器和X光管上下移动可实现三维移动
双激光***装置
准直器自动切换装置
玻璃屏蔽罩
正比计数盒探测器
信号检测电子电路
高低压电源
X光管
计算机及喷墨打印机
样品腔尺寸：517mm×352mm×150mm
外型尺寸：648mm×490mm×544mm
(附件部分为CE证书的PDF文档)
可选配件：正比技数盒、半导体探测器、牛津光管、X透镜（光斑20um）（含半导体探测器、牛津光管、透镜）