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势
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- 探头材料: PVDF 或 PP
- 可以测量至距离天线下缘50mm的地方 - 测量精度±5 mm - ECHOFOX-信号分析处理，采用先进的模糊逻辑 - 通过 PLICSCOM, HART-编程器或计算机调试 - 属于plics®产品系列 |
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测量范围
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达 20 米
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过程连接
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G1½A螺纹, 龙门框或法兰
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过程温度
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-40 ... 80°C
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过程压力
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-1 … +3 bar (-100 … +300 kPa)
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测量精度
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±5 mm
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发射频率
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K-频段
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势
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- 探头材料: PVDF 或 PP
- 可以测量至距离天线下缘50mm的地方 - 测量精度±5 mm - ECHOFOX-信号分析处理，采用先进的模糊逻辑 - 通过 PLICSCOM, HART-编程器或计算机调试 - 属于plics®产品系列 |
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测量范围
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达 20 米
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过程连接
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G1½A螺纹, 龙门框或法兰
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过程温度
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-40 ... 80°C
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过程压力
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-1 … +3 bar (-100 … +300 kPa)
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测量精度
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±5 mm
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发射频率
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K-频段
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势
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- 探头材料: PVDF 或 PP
- 可以测量至距离天线下缘50mm的地方 - 测量精度±5 mm - ECHOFOX-信号分析处理，采用先进的模糊逻辑 - 通过 PLICSCOM, HART-编程器或计算机调试 - 属于plics®产品系列 |
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测量范围
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达 20 米
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过程连接
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G1½A螺纹, 龙门框或法兰
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过程温度
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-40 ... 80°C
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过程压力
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-1 … +3 bar (-100 … +300 kPa)
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测量精度
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±5 mm
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发射频率
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K-频段
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势
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- 探头材料: PVDF 或 PP
- 可以测量至距离天线下缘50mm的地方 - 测量精度±5 mm - ECHOFOX-信号分析处理，采用先进的模糊逻辑 - 通过 PLICSCOM, HART-编程器或计算机调试 - 属于plics®产品系列 |
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测量范围
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达 20 米
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过程连接
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G1½A螺纹, 龙门框或法兰
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过程温度
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-40 ... 80°C
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过程压力
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-1 … +3 bar (-100 … +300 kPa)
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测量精度
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±5 mm
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发射频率
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K-频段
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势
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- 探头材料: PVDF 或 PP
- 可以测量至距离天线下缘50mm的地方 - 测量精度±5 mm - ECHOFOX-信号分析处理，采用先进的模糊逻辑 - 通过 PLICSCOM, HART-编程器或计算机调试 - 属于plics®产品系列 |
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测量范围
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达 20 米
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过程连接
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G1½A螺纹, 龙门框或法兰
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过程温度
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-40 ... 80°C
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过程压力
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-1 … +3 bar (-100 … +300 kPa)
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测量精度
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±5 mm
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发射频率
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K-频段
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势
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- 探头材料: PVDF 或 PP
- 可以测量至距离天线下缘50mm的地方 - 测量精度±5 mm - ECHOFOX-信号分析处理，采用先进的模糊逻辑 - 通过 PLICSCOM, HART-编程器或计算机调试 - 属于plics®产品系列 |
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测量范围
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达 20 米
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过程连接
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G1½A螺纹, 龙门框或法兰
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过程温度
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-40 ... 80°C
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过程压力
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-1 … +3 bar (-100 … +300 kPa)
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测量精度
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±5 mm
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发射频率
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K-频段
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势
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- 探头材料: PVDF 或 PP
- 可以测量至距离天线下缘50mm的地方 - 测量精度±5 mm - ECHOFOX-信号分析处理，采用先进的模糊逻辑 - 通过 PLICSCOM, HART-编程器或计算机调试 - 属于plics®产品系列 |
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测量范围
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达 20 米
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过程连接
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G1½A螺纹, 龙门框或法兰
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过程温度
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-40 ... 80°C
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过程压力
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-1 … +3 bar (-100 … +300 kPa)
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测量精度
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±5 mm
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发射频率
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K-频段
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势
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- 探头材料: PVDF 或 PP
- 可以测量至距离天线下缘50mm的地方 - 测量精度±5 mm - ECHOFOX-信号分析处理，采用先进的模糊逻辑 - 通过 PLICSCOM, HART-编程器或计算机调试 - 属于plics®产品系列 |
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测量范围
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达 20 米
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过程连接
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G1½A螺纹, 龙门框或法兰
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过程温度
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-40 ... 80°C
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过程压力
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-1 … +3 bar (-100 … +300 kPa)
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测量精度
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±5 mm
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发射频率
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K-频段
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